[实用新型]一种快恢复二极管FRD芯片有效
申请号: | 201320168067.7 | 申请日: | 2013-04-07 |
公开(公告)号: | CN203179900U | 公开(公告)日: | 2013-09-04 |
发明(设计)人: | 刘国友;覃荣震;黄建伟 | 申请(专利权)人: | 株洲南车时代电气股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/861 | 分类号: | H01L29/861;H01L29/06 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王宝筠 |
地址: | 412001 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型提供了一种快恢复二极管FRD芯片,该芯片包括芯片有源区和芯片终端保护区;所述芯片终端保护区包括位于所述芯片终端保护区底部的P型掺杂区,所述P型掺杂区与阴极电极接触,且所述P型掺杂区的结深小于位于所述芯片有源区的N+型阴极区的结深。该P型掺杂区在FRD正向导通时,对FRD终端保护区内的N-基区实现电子的零注入,大大减小了FRD终端保护区内的N-基区内的载流子浓度,在FRD关断时,整个N-基区内的载流子抽取速度将会加快,即关断时间得到减小,从而降低了关断损耗。 | ||
搜索关键词: | 一种 恢复 二极管 frd 芯片 | ||
【主权项】:
一种快恢复二极管FRD芯片,所述FRD芯片包括芯片终端保护区,其特征在于,所述芯片终端保护区包括位于所述芯片终端保护区底部的P型掺杂区,所述P型掺杂区与阴极电极接触,且所述P型掺杂区的结深小于N+型阴极区的结深。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株洲南车时代电气股份有限公司,未经株洲南车时代电气股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201320168067.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:太阳能电池背电极四段式测试组合结构
- 下一篇:一种电子器件的封装结构
- 同类专利
- 专利分类