[发明专利]一种增强型器件的制造方法在审

专利信息
申请号: 201310738667.7 申请日: 2013-12-27
公开(公告)号: CN103715086A 公开(公告)日: 2014-04-09
发明(设计)人: 程凯 申请(专利权)人: 苏州晶湛半导体有限公司
主分类号: H01L21/335 分类号: H01L21/335
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 常亮
地址: 215124 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种增强型器件的制造方法,所述方法包括:提供一衬底;在所述衬底上沉积氮化物沟道层,氮化物沟道层上定义有栅极区、源极区和漏极区,所述氮化物沟道层上的栅极区形成有至少一个非平面结构;在所述氮化物沟道层上沉积氮化物势垒层,氮化物势垒层形成有至少一个非平面结构;在所述氮化物势垒层上形成栅极、源极和漏极。本发明不需要对氮化物势垒层做刻蚀,避免了有源区的损伤带来的器件性能下降,比如说低电流密度或者电流崩塌等效应。另外,也不需要用到引入Mg原子实现p型氮化物,避免了对MOCVD或者MBE腔体的污染。
搜索关键词: 一种 增强 器件 制造 方法
【主权项】:
一种增强型器件的制造方法,其特征在于,所述方法包括:S1、提供一衬底;S2、在所述衬底上沉积氮化物沟道层,所述氮化物沟道层上定义有栅极区、源极区和漏极区,所述氮化物沟道层的栅极区形成有至少一个非平面结构;S3、在所述氮化物沟道层上沉积氮化物势垒层,所述氮化物势垒层形成有至少一个非平面结构,形成氮化物沟道层/氮化物势垒层异质结,所述非平面结构处存在氮化物的非极性面或半极性面或其组合,氮化物沟道层/氮化物势垒层异质结沟道中的二维电子气至少部分形成中断;S4、在所述氮化物势垒层上形成栅极、源极和漏极,栅极、源极和漏极分别位于氮化物沟道层上栅极区、源极区和漏极区的上方,所述栅极位于源极和漏极之间。
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