[发明专利]用于增强ESD保护的半导体结构无效
申请号: | 201310723477.8 | 申请日: | 2013-12-24 |
公开(公告)号: | CN104299967A | 公开(公告)日: | 2015-01-21 |
发明(设计)人: | J·E·文森 | 申请(专利权)人: | 英特赛尔美国有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L21/82;H03K19/0175 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 张东梅 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明公开了一种用于增强ESD保护的半导体结构。所述半导体结构包括多个指状物和连接件,其中所述多个指状物中的每个指状物包括多个电压箝位器,并且所述多个电压箝位器中的每个电压箝位器至少包括具有第一导电类型的第一阱和具有第二导电类型的第二阱,以及所述连接件在所述多个电压箝位器中的第一电压箝位器的所述第一阱的阱联接件与所述多个电压箝位器中的第二电压箝位器的所述第一阱的阱联接件之间,其中所述连接件能够将与所述第一电压箝位器中的电流流动相关联的偏压耦合到所述第二电压箝位器,并从而使所述第一电压箝位器和所述第二电压箝位器能够基本上同时触发接通。 | ||
搜索关键词: | 用于 增强 esd 保护 半导体 结构 | ||
【主权项】:
一种半导体结构,其包括:第一阻断结,其在具有第一导电类型的第一阱与具有第二导电类型的半导体材料层之间;至少第二阻断结,其在具有所述第一导电类型的第二阱与所述半导体材料层之间;以及浮动连接件,其耦合到所述第一阻断结和所述至少第二阻断结的,其中所述浮动连接件能够将与流过所述第一阻断结的电流相关联的偏压耦合到所述至少第二阻断结,并从而使所述第一阻断结和所述至少第二阻断结能够基本上同时触发和导通电流。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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