[发明专利]用于测量有机薄膜的厚度的设备和有机薄膜沉积设备有效
申请号: | 201310722647.0 | 申请日: | 2013-12-24 |
公开(公告)号: | CN104004991B | 公开(公告)日: | 2018-05-01 |
发明(设计)人: | 李润宰;崔永默 | 申请(专利权)人: | 三星显示有限公司 |
主分类号: | C23C14/12 | 分类号: | C23C14/12;H01L21/66 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司11286 | 代理人: | 王兆赓,李云霞 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于测量有机薄膜的厚度的设备和具有该设备的有机薄膜沉积设备。所述用于测量有机薄膜的厚度的设备包括基座;第一支撑件,结合到基座;第二支撑件,包括第一端和第二端,第一端连接到第一支撑件;检测器构件,连接到第二支撑件的第二端,以测量沉积在沉积目标上的有机薄膜的厚度;位置调节器构件,被构造为调节检测器构件的位置。 | ||
搜索关键词: | 用于 测量 有机 薄膜 厚度 设备 沉积 | ||
【主权项】:
一种用于测量有机薄膜的厚度的设备,所述设备包括:基座;第一支撑件,结合到基座;第二支撑件,包括第一端和第二端,其中,第一端连接到第一支撑件;检测器构件,连接到第二支撑件的第二端,并被构造为测量沉积在沉积目标上的有机薄膜的厚度;位置调节器构件,被构造为调节检测器构件的位置,其中,位置调节器构件包括:旋转驱动器,设置在第一支撑件上,并被构造为使第二支撑件绕第二支撑件的第一端旋转,从而调节第一支撑件和检测器构件之间的角度。
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