[发明专利]一种ZnO基薄膜及其制备方法有效
申请号: | 201310696318.3 | 申请日: | 2013-12-18 |
公开(公告)号: | CN103710675A | 公开(公告)日: | 2014-04-09 |
发明(设计)人: | 吕建国;江庆军;袁禹亮;叶志镇 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/08 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 韩介梅 |
地址: | 310027 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开的ZnO基薄膜,在ZnO基薄膜中镶嵌有ZnO基纳米片,ZnO基薄膜及ZnO基纳米片的化学式均为Zn1-xMxO,M=Al、Ga、In、B、Cd或Mg,0≦x<0.20,纳米片直径在1~5um。制备步骤包括:按化学式Zn1-xMxO计量比称取纯ZnO粉末和纯M氧化物粉末,制成ZnO基陶瓷靶材;用磁控溅射法在衬底上沉积ZnO基薄膜,然后放入腐蚀剂中腐蚀,腐蚀液沿着晶界定向腐蚀后在ZnO:Al薄膜表面形成了ZnO:Al纳米片。由于ZnO基纳米片具有较大的比表面积,因此对光、气体、有机物等具有良好的响应。本发明制备工艺简单、重复性好、易于操作、成本低。 | ||
搜索关键词: | 一种 zno 薄膜 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种ZnO基薄膜,其特征是ZnO基薄膜中镶嵌有ZnO基纳米片,ZnO基薄膜及ZnO基纳米片的化学式均为Zn1‑xMxO ,M = Al、Ga、In、B、Cd或Mg,0≦x<0.20,纳米片直径在1 ~ 5 um。
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