[发明专利]一种定位缺陷亚像素位置的方法有效
| 申请号： | 201310682600.6 | 申请日： | 2013-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN103698912B | 公开（公告）日： | 2017-02-15 |
| 发明（设计）人： | 张力舟;尹镇镐;孟祥明;张磊;张畅;郭建强 | 申请（专利权）人： | 合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G02F1/1362;H01L21/68 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 | 代理人： | 柴亮,张天舒 |
| 地址： | 230012 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供一种定位缺陷亚像素位置的方法及定位缺陷亚像素位置的装置，属于显示装置制造技术领域，其可解决现有的缺陷亚像素位置不能准确定位的问题。本发明的定位缺陷亚像素位置的方法，其中，基板包括复数个亚像素，复数个亚像素划分为多个像素周期，每个像素周期包括至少两个亚像素，包括对各像素周期进行对比，确定缺陷亚像素所在的像素周期的位置；对含有缺陷亚像素的像素周期内的各亚像素与其他亚像素进行对比，确定缺陷亚像素的位置。定位缺陷亚像素位置的装置包括比较单元，用于对像素周期进行比较，确定缺陷亚像素所在的像素周期的位置，并对含有缺陷亚像素所在的像素周期内的各亚像素与其他亚像素进行对比，确定缺陷亚像素的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 定位 缺陷 像素 位置 方法 | ||
【主权项】：
一种定位缺陷亚像素位置的方法，其中，基板包括复数个亚像素，复数个亚像素划分为多个像素周期，每个像素周期包括至少两个亚像素，其特征在于，所述定位缺陷亚像素位置的方法包括如下步骤：对各像素周期进行对比，确定缺陷亚像素所在的像素周期的位置，所述对各像素周期进行对比是根据像素周期的图像信息进行对比；对含有缺陷亚像素的像素周期内的各亚像素与其他亚像素进行对比，确定缺陷亚像素的位置，所述对含有缺陷亚像素的像素周期内的各亚像素与其他亚像素进行对比是根据亚像素的图像信息进行对比。
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