[发明专利]一种波束合成器件的微波透射特性测量装置及方法在审
| 申请号： | 201310667122.1 | 申请日： | 2013-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN104714086A | 公开（公告）日： | 2015-06-17 |
| 发明（设计）人： | 张励;李艳红;李卓 | 申请（专利权）人： | 上海机电工程研究所;北京理工大学 |
| 主分类号： | G01R23/02 | 分类号： | G01R23/02 |
| 代理公司： | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人： | 冯和纯 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于波束合成器件的微波透射特性测量方法，在微波暗室中，采用远场条件，标准天线喇叭发射接收微波信号，网络分析仪采集振幅信号。采用固定接收与发射天线状态，空暗室和暗室中放入波束合成器件两种情况相互更替的方式进行振幅和偏角的测量，经过分析处理，得到波束合成器件对微波信号的振幅衰减和偏角两种特性值。该方法适用于单层或多层波束合成器件，通过发射接收天线的二维运动，实现波束合成器件上各点的微波性能测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 波束 合成 器件 微波 透射 特性 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种用于波束合成器件的微波透射特性测量装置，其特征在于，包括：发射天线、接收天线、网络分析仪、第一转台、第二转台；所述发射天线、接收天线分别安装在第一转台、第二转台上；所述网络分析仪输出待测频率信号给发射天线，所述发射天线发射微波信号，所述网络分析仪采集接收天线接收到的微波信号的振幅。
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