[发明专利]一种多光谱辐射测温装置及方法有效

专利信息
申请号: 201310633736.8 申请日: 2013-11-29
公开(公告)号: CN103644972B 公开(公告)日: 2017-04-12
发明(设计)人: 陈绍武;张磊;陶蒙蒙;赵新艳;杨鹏翎;张振荣;胡志云;叶景峰;冯国斌 申请(专利权)人: 西北核技术研究所
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00;G01J5/08
代理公司: 西安文盛专利代理有限公司61100 代理人: 李中群
地址: 710024 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种多光谱辐射测温系统和方法,包括宽谱光源和依次设置在宽谱光源出射光路上的入射准直透镜组、出射准直透镜组和光谱仪,待测量火焰设置在入射准直透镜组和出射准直透镜组之间;本发明在多光谱辐射测温系统所穿过测量火焰的相同路径上,设置了发射率系数自校准系统,通过记录宽谱光源、火焰、宽谱光源联合火焰的光谱参数,得到了不同波长下的火焰发射率系数,用于多光谱辐射测温系统的参数校正,克服了传统理论计算修正中的模型误差,提高了测量不确定度。
搜索关键词: 一种 光谱 辐射 测温 装置 方法
【主权项】:
一种多光谱辐射测温方法,其特征在于,包括以下步骤:[1]搭建多光谱辐射测温装置,所述的多光谱辐射测温装置包括脉冲宽谱光源(1)和依次设置在脉冲宽谱光源(1)出射光路上的入射准直透镜组(3)、出射准直透镜组(5)和光谱仪(6),待测量火焰(4)设置在入射准直透镜组(3)和出射准直透镜组(5)之间,脉冲宽谱光源(1)出射光经过入射准直透镜组(3)准直后,穿过火焰(4)的待测量区域,并经出射准直透镜组(5),耦合进光谱仪(6);[2]光谱仪记录得到脉冲宽谱光源在出光时的光谱信号V1(λ);[3]光谱仪记录脉冲宽谱光源和火焰同时作用下的光谱信号,获取火焰单独辐照到光谱仪的信号V2(λ)和火焰与宽谱光源同时作用下的光谱信号V3(λ);[4]计算得到火焰发射率系数ε(λ)=(V2(λ)+V1(λ)‑V3(λ))/V1(λ);[5]对公式进行数据拟合,得到火焰积分路径上的温度值;其中λ为工作波长,T为工作温度,C1和C2分别为第一辐射常数和第二辐射常数;[6]计算得到不同时刻下的火焰温度参数。
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