[发明专利]由安全关键系统中的可编程电路测试存储器的装置和方法

摘要

本发明涉及一种方法和装置。在该方法中，可编程随机访问存储器测试电路检测用于发起至少一个随机访问存储器电路的测试的信号，该测试电路连接至总线，处理器和至少一个存储器电路与该总线进行连接，该至少一个存储器电路包括至少第一存储器模块。该测试电路确定该总线并未被保留并且保留该总线。该测试电路将第一存储器分块中的应用数据读取至测试电路的临时存储器中。该测试电路对存储器电路中的第一存储器分块执行跨步测试。该测试电路将应用数据返回至存储器电路中的第一存储器分块。该测试电路释放该总线。若对于除存储器测试以外的其它目的不需要进行总线分配，该测试电路可以再次保留该总线。随即该测试电路可以进行第二存储器分块的测试。

主权项

一种用于测试至少一个随机访问存储器电路的方法，包括：由随机访问存储器测试电路接收要发起至少一个随机访问存储器电路的测试的信号，所述测试电路被连接至总线，处理器和所述至少一个随机访问存储器电路与所述总线连接，所述至少一个随机访问存储器电路包括至少第一存储器分块；确定所述总线并未被保留；由所述测试电路保留所述总线；经由所述总线将所述第一存储器分块中所包括的第一应用数据读取至所述测试电路；将所述第一应用数据存储至与所述测试电路相关联的存储器；由所述测试电路经由所述总线将至少一个第一数据模式写入所述第一存储器分块；由所述测试电路经由所述总线从所述第一存储器分块读取至少一个第二数据模式；由所述测试电路将所述至少一个第一数据模式与所述至少一个第二数据模式进行比较以验证存储所述第一存储器分块的第一随机访问存储器电路的正确工作，所述第一随机访问存储器电路处于所述至少一个随机访问存储器电路之中；在所述第一随机访问存储器电路正确工作的情况下将所述第一应用数据经由所述总线写回所述第一存储器分块；以及由所述测试电路释放所述总线。