[发明专利]待测装置及用于测试待测装置的方法

摘要

本发明公开了一种待测装置、测试器及用于测试所述待测装置的方法。所述待测装置具有一连接接口、一控制器以及一功能区块。所述连接接口是用以接收以一第一时钟速率所传送的一测试型样并且输出一功能测试结果。所述控制器是用以通过使用一第二时钟速率来对所述测试型样进行取样并据以产生一取样后测试型样，其中所述第二时钟速率高于所述第一时钟速率。所述功能区块是用以对所述取样后测试型样执行一特定功能并据以产生所述功能测试结果。通过本发明，可达到用一低速测试器来对一待测装置进行一实速功能测试的目的，进而降低测试成本。

主权项

一种待测装置，其特征在于包括：一连接接口，用以接收以一第一时钟速率所传送的一测试型样并且输出一功能测试结果，其中该测试型样包含了故意带入的多个错误位；一控制器，用以通过使用一第二时钟速率来对所述测试型样进行取样并据以产生一取样后测试型样，其中所述第二时钟速率高于所述第一时钟速率，且该取样后测试型样为多个复制的该测试型样以增加所故意带入的该多个错误位；一错误检查及校正电路，用以对所述取样后测试型样执行一错误检查及校正译码操作以产生所述功能测试结果。