[发明专利]性能测量单元、包括该单元的处理器核心和处理剖析方法在审
| 申请号： | 201310597957.4 | 申请日： | 2013-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN103838539A | 公开（公告）日： | 2014-06-04 |
| 发明（设计）人： | 李敏周;艾格·伯恩哈德;李在镇;金永洛;金鸿圭;金洪准 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社;首尔大学校产学协力团 |
| 主分类号： | G06F3/14 | 分类号： | G06F3/14 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 韩芳;常桂珍 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明提供了一种性能测量单元、包括该单元的处理器核心和处理剖析方法。所述性能测量单元包括：事件计数器，被配置为记录指示在处理器核心中发生的事件的数量的计数器值；映射事件计数器，被配置为将记录在事件计数器中的计数器值复制到映射事件计数器。所述性能测试单元被配置为使用事件计数器和映射事件计数器来确定在处理器核心中发生的有效事件的数量。所述有效事件与当执行所选择的处理时发生的事件相应。 | ||
| 搜索关键词： | 性能 测量 单元 包括 处理器 核心 处理 剖析 方法 | ||
【主权项】：
一种性能测量单元，包括：事件计数器，被配置为记录指示在处理器核心中发生的事件的数量的计数器值；映射事件计数器，被配置为将记录在事件计数器中的计数器值复制到映射事件计数器，其中，所述性能测量单元被配置为使用事件计数器和映射事件计数器来确定在处理器核心中发生的有效事件的数量，其中，所述有效事件与当执行所选择的处理时发生的事件相应。
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