[发明专利]彩膜基板的检测方法和检测装置有效

专利信息
申请号: 201310585128.4 申请日: 2013-11-19
公开(公告)号: CN103558702A 公开(公告)日: 2014-02-05
发明(设计)人: 张铁轶;余道平;侯玉珠;刘辉 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明实施例公开了一种彩膜基板的检测方法和检测装置,涉及显示技术领域,能够保证彩膜基板的检测结果的准确性。彩膜基板包括若干个子像素,任意两个颜色相同的、最接近的子像素的中心距离为Lμm,L>0,扫描彩膜基板的电荷耦合元件的像素的边长为βμm,0<β<L,当非整数时,彩膜基板的检测方法包括:获取彩膜基板上的一个区域作为待检测区域,获取电荷耦合元件扫描到的待检测区域的灰度值;在同一行或同一列中,获取第一灰度值和第二灰度值、第三灰度值和第四灰度值;根据第一灰度值和第二灰度值获得第一参考灰度值,根据第三灰度值和第四灰度值获得第二参考灰度值;根据第一参考灰度值、第二参考灰度值判断待检测区域的灰度值是否正常。
搜索关键词: 彩膜基板 检测 方法 装置
【主权项】:
1.一种彩膜基板的检测方法,所述彩膜基板包括若干个子像素,任意两个颜色相同的、最接近的子像素的中心距离为Lμm,L>0,扫描所述彩膜基板的电荷耦合元件的像素的边长为βμm,0<β<L,其特征在于,当非整数时,所述彩膜基板的检测方法包括:获取所述彩膜基板上的一个区域作为待检测区域,获取所述电荷耦合元件扫描到的待检测区域的灰度值;在同一行或同一列中,获取第一灰度值和第二灰度值、第三灰度值和第四灰度值,其中,所述第一灰度值与所述待检测区域的灰度值相差个灰度值,所述第二灰度值与所述待检测区域的灰度值相差个灰度值,所述第三灰度值与所述第一灰度值或所述待检测区域的灰度值相差个灰度值,所述第四灰度值与所述第二灰度值或所述待检测区域的灰度值相差个灰度值;根据所述第一灰度值和所述第二灰度值获得第一参考灰度值,根据所述第三灰度值和所述第四灰度值获得第二参考灰度值;根据所述第一参考灰度值、所述第二参考灰度值判断所述待检测区域的灰度值是否正常。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310585128.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top