[发明专利]彩膜基板的检测方法和检测装置有效
申请号: | 201310585128.4 | 申请日: | 2013-11-19 |
公开(公告)号: | CN103558702A | 公开(公告)日: | 2014-02-05 |
发明(设计)人: | 张铁轶;余道平;侯玉珠;刘辉 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: |
本发明实施例公开了一种彩膜基板的检测方法和检测装置,涉及显示技术领域,能够保证彩膜基板的检测结果的准确性。彩膜基板包括若干个子像素,任意两个颜色相同的、最接近的子像素的中心距离为Lμm,L>0,扫描彩膜基板的电荷耦合元件的像素的边长为βμm,0<β<L,当 |
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搜索关键词: | 彩膜基板 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种彩膜基板的检测方法,所述彩膜基板包括若干个子像素,任意两个颜色相同的、最接近的子像素的中心距离为Lμm,L>0,扫描所述彩膜基板的电荷耦合元件的像素的边长为βμm,0<β<L,其特征在于,当
非整数时,所述彩膜基板的检测方法包括:获取所述彩膜基板上的一个区域作为待检测区域,获取所述电荷耦合元件扫描到的待检测区域的灰度值;在同一行或同一列中,获取第一灰度值和第二灰度值、第三灰度值和第四灰度值,其中,所述第一灰度值与所述待检测区域的灰度值相差
个灰度值,所述第二灰度值与所述待检测区域的灰度值相差
个灰度值,所述第三灰度值与所述第一灰度值或所述待检测区域的灰度值相差
个灰度值,所述第四灰度值与所述第二灰度值或所述待检测区域的灰度值相差
个灰度值;根据所述第一灰度值和所述第二灰度值获得第一参考灰度值,根据所述第三灰度值和所述第四灰度值获得第二参考灰度值;根据所述第一参考灰度值、所述第二参考灰度值判断所述待检测区域的灰度值是否正常。
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