[发明专利]基于顺电相钽铌酸钾晶体电控偏转特性的二维光学扫描系统及方法无效
| 申请号： | 201310579886.5 | 申请日： | 2013-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN103713403A | 公开（公告）日： | 2014-04-09 |
| 发明（设计）人： | 宫德维;周忠祥 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G02F1/03 | 分类号： | G02F1/03 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 150000 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 基于顺电相钽铌酸钾晶体电控偏转特性的二维光学扫描系统及方法，属于非线性光学领域。二维光学扫描系统由第一顺电相钽铌酸钾晶体、第二顺电相钽铌酸钾晶体和二分之一玻片组成，第一顺电相钽铌酸钾晶体和第二顺电相钽铌酸钾晶体的[100]、[010]和[001]方向与直角坐标系的x、y、z轴相对应，z轴为光学对称轴，沿z值增大方向依次为第一顺电相钽铌酸钾晶体、二分之一玻片和第二顺电相钽铌酸钾晶体。本发明以顺电相钽铌酸钾晶体为基础，利用其电控二次电光效应实现入射光的偏转，并其通过调节施加在晶体表面的外加电压直接控制激光束的偏转方向，从而实现二维空间扫描。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 顺电相钽铌酸钾 晶体 偏转 特性 二维 光学 扫描 系统 方法 | ||
【主权项】：
基于顺电相钽铌酸钾晶体电控偏转特性的二维光学扫描系统，其特征在于所述二维光学扫描系统由第一顺电相钽铌酸钾晶体、第二顺电相钽铌酸钾晶体和二分之一玻片组成，第一顺电相钽铌酸钾晶体和第二顺电相钽铌酸钾晶体的[100]、[010]和[001]方向与直角坐标系的x、y、z轴相对应，z轴为光学对称轴，沿z值增大方向依次为第一顺电相钽铌酸钾晶体、二分之一玻片和第二顺电相钽铌酸钾晶体。
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