[发明专利]芯片测试系统及芯片测试方法有效
| 申请号： | 201310574106.8 | 申请日： | 2013-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN103576079A | 公开（公告）日： | 2014-02-12 |
| 发明（设计）人： | 张大成;施瑾;刘远华;顾春华;郝丹丹 | 申请（专利权）人： | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 周耀君 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种芯片测试系统及芯片测试方法，其中，所述芯片测试系统包括：测试机、晶振及信号分析系统，所述测试机及晶振均与所述信号分析系统连接；所述测试机用以提供测试信号；所述晶振用以提供时钟信号；所述信号分析系统用以获取测试机输出测试信号的信号输出时间；其中，所述测试机根据信号输出时间输出测试信号。在此，通过信号分析系统获取测试机输出测试信号的信号输出时间，测试机据此输出测试信号，由此测试机便能够选择输出测试信号的时刻，进而实现与时钟信号同步，从而得到可靠/准确的芯片测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种芯片测试系统，其特征在于，包括：测试机、晶振及信号分析系统，所述测试机及晶振均与所述信号分析系统连接；所述测试机用以提供测试信号；所述晶振用以提供时钟信号；所述信号分析系统用以获取测试机输出测试信号的信号输出时间；其中，所述测试机根据信号输出时间输出测试信号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华岭集成电路技术股份有限公司，未经上海华岭集成电路技术股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310574106.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种治疗蚊叮虫咬的中药外用药液
- 下一篇：电子卡连接器
