[发明专利]直线位移台运动平行度的非接触检测方法有效
申请号: | 201310565740.5 | 申请日: | 2013-11-14 |
公开(公告)号: | CN103630098A | 公开(公告)日: | 2014-03-12 |
发明(设计)人: | 范李立;步扬;王向朝 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01B21/02 | 分类号: | G01B21/02 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 张泽纯 |
地址: | 201800 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 种直线位移台运动平行度的非接触检测方法,检测装置包括隔震平台、转接架、螺钉、位移传感器、检测基准块。检测方法包括检测装置安装、测量和数据处理。本发明测量具有分辨率高、精度高、速度快、灵敏度高的特点;对测量环境如洁净度、振动要求相对较低。 | ||
搜索关键词: | 直线 位移 运动 平行 接触 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种直线位移台运动平行度非接触检测方法,其特征在于检测装置包括隔震平台(7)、转接架(8)、螺钉(9)、位移传感器(10)和检测基准块(12),该方法的检测步骤如下:第一步,检测装置安装:将所述的隔震平台(7)水平放置,调整上表面平行于水平面XY面,将待测的直线位移台的基座(3)的下底面直接置于所述的隔震平台(7)上,待测的直线位移台的导轨(1)的运动方向为X轴方向,所述的检测基准块(12)的下表面置于所述的隔震平台(7)上并与所述的直线位移台的侧面留有一定间隙,避免由于直线位移台运动时产生振动而带来影响,所述的检测基准块(12)的最长边大于待测的直线位移台的全行程且沿X轴方向摆放,调整至检测基准块(12)的上表面平行于水平面XY面,将所述的转接架(8)置于所述的直线位移台的运动滑块(4)上,利用螺钉(9)旋入直线位移台的运动滑块(4)上的连接孔(5)固定;将所述的位移传感器(10)与转接架(8)的一侧面(13)通过螺钉(9)刚性固定,使运动滑块(4)移动到任意位置时,所述的位移传感器(10)的传感面(11)始终处于所述的检测基准块(12)的上表面的上方,使所述的位移传感器(10)的传感面(11)的法线垂直并位于所述的检测基准块(12)的上表面,所述的直线位移台的运动滑块(4)在电机(6)的驱动下沿导轨(1)的方向移动到测量运动平行度的起点位置,此时令位移传感器(10)的传感面(11)相对于检测基准块(12)的上表面的距离为z0,在XZ平面内的位移变化量为零;第二步,测量:待测的直线位移台的电机(6)驱动所述的运动滑块(4)沿导轨(1)在行程范围内连续移动,所述的位移传感器(10)以设定的时间间隔自动记录传感面(11)相对于检测基准块(12)的上表面在XZ平面内的位移量z,生成x1、z1,x2、z2,x3、z3,x4、z4,x5、z5,……,xn、zn,变化量△z=z-z0;第三步,数据处理:将所述的x1、z1,x2、z2,x3、z3,x4、z4,x5、z5,……,xn、zn导出,利用最小二乘法拟合出一条直线,该直线向上最大偏离(+△Z1)与直线向下最大偏离(+△Z2)之和,即为所述的直线位移台的运动平行度。
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