[发明专利]芯片与静电放电保护组件及其制造方法有效
申请号: | 201310542131.8 | 申请日: | 2013-11-05 |
公开(公告)号: | CN104576635A | 公开(公告)日: | 2015-04-29 |
发明(设计)人: | 陈哲宏 | 申请(专利权)人: | 创杰科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L21/77 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 李昕巍;赵根喜 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种芯片与静电放电保护组件及其制造方法,静电放电保护组件包括N型阱、P型掺杂区、第一N型掺杂区、多个N型子掺杂区、第一N+型掺杂区、第一P+型掺杂区、第二N+型掺杂区与第二P+型掺杂区。P型掺杂区配置于N型阱中。第一N型掺杂区配置于P型掺杂区中。多个N型子掺杂区并列配置于P型掺杂区中。第一N+型掺杂区配置于第一N型掺杂区中。第一P+型掺杂区配置于第一N型掺杂区中。第二N+型掺杂区配置于P型掺杂区中。第二P+型掺杂区配置于P型掺杂区中。 | ||
搜索关键词: | 芯片 静电 放电 保护 组件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种静电放电保护组件,其特征在于,该静电放电保护组件包括:一N型阱;一P型掺杂区,配置于该N型阱中;一第一N型掺杂区,配置于该P型掺杂区中;多个N型子掺杂区,并列配置于该P型掺杂区中,所述多个N型子掺杂区与该第一N型掺杂区不接触,并且所述多个N型子掺杂区电性连接一第一电源轨线;一第一N+型掺杂区,配置于该第一N型掺杂区中;一第一P+型掺杂区,配置于该第一N型掺杂区中,其中该第一N+型掺杂区与该第一P+型掺杂区用以电性连接一焊垫;一第二N+型掺杂区,配置于该P型掺杂区中;以及一第二P+型掺杂区,配置于该P型掺杂区中,其中该第二P+型掺杂区与该第二N+型掺杂区电性连接一第二电源轨线,其中所述多个N型子掺杂区配置在该第一N型掺杂区与该第二N+型掺杂区之间。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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