[发明专利]芯片与静电放电保护组件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201310542131.8 申请日: 2013-11-05
公开(公告)号: CN104576635A 公开(公告)日: 2015-04-29
发明(设计)人: 陈哲宏 申请(专利权)人: 创杰科技股份有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L21/77
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 李昕巍;赵根喜
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种芯片与静电放电保护组件及其制造方法,静电放电保护组件包括N型阱、P型掺杂区、第一N型掺杂区、多个N型子掺杂区、第一N+型掺杂区、第一P+型掺杂区、第二N+型掺杂区与第二P+型掺杂区。P型掺杂区配置于N型阱中。第一N型掺杂区配置于P型掺杂区中。多个N型子掺杂区并列配置于P型掺杂区中。第一N+型掺杂区配置于第一N型掺杂区中。第一P+型掺杂区配置于第一N型掺杂区中。第二N+型掺杂区配置于P型掺杂区中。第二P+型掺杂区配置于P型掺杂区中。
搜索关键词: 芯片 静电 放电 保护 组件 及其 制造 方法
【主权项】:
一种静电放电保护组件,其特征在于,该静电放电保护组件包括:一N型阱;一P型掺杂区,配置于该N型阱中;一第一N型掺杂区,配置于该P型掺杂区中;多个N型子掺杂区,并列配置于该P型掺杂区中,所述多个N型子掺杂区与该第一N型掺杂区不接触,并且所述多个N型子掺杂区电性连接一第一电源轨线;一第一N+型掺杂区,配置于该第一N型掺杂区中;一第一P+型掺杂区,配置于该第一N型掺杂区中,其中该第一N+型掺杂区与该第一P+型掺杂区用以电性连接一焊垫;一第二N+型掺杂区,配置于该P型掺杂区中;以及一第二P+型掺杂区,配置于该P型掺杂区中,其中该第二P+型掺杂区与该第二N+型掺杂区电性连接一第二电源轨线,其中所述多个N型子掺杂区配置在该第一N型掺杂区与该第二N+型掺杂区之间。
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