[发明专利]一种磁控形状记忆合金性能的测试装置无效
申请号: | 201310528270.5 | 申请日: | 2013-10-31 |
公开(公告)号: | CN103557887A | 公开(公告)日: | 2014-02-05 |
发明(设计)人: | 涂福泉;李贺;刘小双;陈奎生;曾良才;傅连东;许仁波;欧阳惠;周浩;王琦琳 | 申请(专利权)人: | 武汉科技大学 |
主分类号: | G01D21/02 | 分类号: | G01D21/02 |
代理公司: | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 张火春 |
地址: | 430081 *** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明涉及一种磁控形状记忆合金性能的测试装置。其技术方案是:底座(8)前后对称固定的前支撑架(9)和后支撑架(21)上设置有铁芯(14),铁芯(14)前部的上平面设置有连接板(17),连接板(17)的上平面固定有加载架(2)。铁芯(14)的左侧缠绕有左线圈(6),铁芯(14)的右侧缠绕有右线圈(15)。调节手柄(1)的下端旋出加载架(2)上部的中心螺孔,在上顶杆(18)的环状凸台和调节手柄(1)的弹簧挡片(3)间装有弹簧(19)。底座(8)装有力传感器(10),力传感器(10)上装有下顶杆(11),下顶杆(11)与上顶杆(18)间装有磁控形状记忆合金(13)。连接板(17)的中心孔一侧装有位移传感器(4),铁芯间隙的侧面固定有霍尔传感器(12)。本装置具有结构简单紧凑和测量精度高的特点。 | ||
搜索关键词: | 一种 形状 记忆 合金 性能 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种磁控形状记忆合金性能的测试装置,其特征在于在所述装置的底座(8)前后对称地固定有前支撑架(9)和后支撑架(21),前支撑架(9)和后支撑架(21)上设置有铁芯(14),铁芯(14)前部的上平面设置有连接板(17);前左夹板(5)和前右夹板(16)的上端对应地压在连接板(17)左端和右端,前左夹板(5)和前右夹板(16)的下端对应地固定在前支撑架(9)的左端和右端;后左夹板(22)和后右夹板(20)的上端对应地压在铁芯(14)的后左角和后右角的上平面,后左夹板(22)和后右夹板(20)的下端对应地固定在后支撑架(21)的左端和右端;连接板(17)的上平面固定有加载架(2);铁芯(14)的左侧缠绕有左线圈(6),铁芯(14)的右侧缠绕有右线圈(15);加载架(2)的上部中心位置处设有螺孔,调节手柄(1)的下端旋出螺孔,靠近调节手柄(1)的下端处装有弹簧挡片(3),连接板(17)的中心孔活动地装有上顶杆(18),上顶杆(18)的上部设有环状凸台,在上顶杆(18)的环状凸台和调节手柄(1)的弹簧挡片(3)间装有弹簧(19);底座(8)装有力传感器(10),力传感器(10)上装有下顶杆(11),下顶杆(11)的上端穿出前支撑架(9)的中心孔,下顶杆(11)与上顶杆(18)间装有磁控形状记忆合金(13);力传感器(10)、下顶杆(11)、磁控形状记忆合金(13)、上顶杆(18)和调节手柄(1)的中心线位于同一铅垂线;连接板(17)的中心孔孔口旁装有位移传感器(4),在铁芯间隙的左侧面或右侧面的中间位置处固定有霍尔传感器(12);在底座(8)上固定有隔磁罩(7),本装置除底座(8)外的其余零部件均位于隔磁罩(7)内,加载架(2)的上部穿出隔磁罩(7)。
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