[发明专利]测定晶内第二相在基体中分布均匀性的方法

摘要

测定晶内第二相在基体中分布均匀性的方法，其步骤依次是：制备金相样品并进行金相观察；通过金相分析得到视场内每个第二相的几何中心坐标（X Y），并将每一个坐标值保存到文本文件中；进行第二相均匀性测定：测定视场内所有第二相颗粒在二维平面内的平均最近邻、次最近邻的定义间距和对应标准偏差σ_t，并将平均最近邻、次最近邻的定义间距和对应标准偏差σ_t随试样位置变化绘成曲线图，通过曲线图直观反映第二相均匀性情况及随试样位置的变化。本发明把基体中第二相信息与数学方法相结合，其操作简单、结果准确可靠，适用于数目较多时的数据统计。其具有较大的经济价值和社会价值。

主权项

1.测定晶内第二相在基体中分布均匀性的方法，其特征在于：其步骤依次是：首先，制备金相样品并进行金相观察；然后，通过金相分析得到视场内每个第二相的几何中心坐标（X Y），并将每一个坐标值保存到文本文件中；最后，进行第二相均匀性测定：测定视场内所有第二相颗粒在二维平面内的平均最近邻、次最近邻的定义间距和对应标准偏差σ_t，随试样位置不同，选择对应的视场，测定相应的平均最近邻、次最近邻的定义间距和对应标准偏差σ_t，并且将平均最近邻、次最近邻的定义间距和对应标准偏差σ_t随试样位置变化绘成曲线图，通过曲线图直观反映第二相均匀性情况及随试样位置的变化。