[发明专利]时间门控宽场受激辐射超分辨显微方法及装置

摘要

本发明公开了一种时间门控宽场受激辐射超分辨显微方法，包括以下步骤：1）激发光经显微物镜投射到的待测样品之上，对待测样品进行宽敞激发发出荧光；2）损耗光通过光束调制模块进行调制后，同样经显微物镜投射到待测样品上，形成暗斑阵列状照明光斑，对宽敞激发区域进行受激辐射损耗；3）待测样品在受激辐射损耗后发出的荧光由显微物镜收集，并聚焦投射到光电感应器件上，得到待测样品的荧光图像；4）平移待测样品，并重复步骤1）～3），对待测样品进行水平二维扫描，得到与各扫描位置相对应的荧光图像；5）对所有荧光图像进行平移、叠加处理，最终恢复出二维超分辨图像。本发明还公开了一种时间门控宽场受激辐射超分辨显微装置。

主权项

一种时间门控宽场受激辐射超分辨显微方法，其特征在于，包括以下步骤：1）激发光经显微物镜投射在位于纳米水平位移台的待测样品之上，对所述的待测样品进行宽敞激发发出荧光；2）损耗光通过光束调制模块进行调制后，同样经所述的显微物镜投射到所述的待测样品上，形成暗斑阵列状照明光斑，对宽敞激发区域进行受激辐射损耗；3）所述待测样品在受激辐射损耗后发出的荧光由显微物镜收集，并通过聚焦投射到光电感应器件上，得到待测样品的荧光图像；4）移动所述的纳米水平位移台，并重复步骤1）～3），对待测样品进行水平二维扫描，得到与各扫描位置相对应的荧光图像；5）对所得到的各幅荧光图像进行平移、叠加处理，最终恢复出待测样品的二维超分辨图像。