[发明专利]基于数字图像处理检测聚烯烃材料的杂质几何特征的方法无效
| 申请号： | 201310454787.4 | 申请日： | 2013-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN103512883A | 公开（公告）日： | 2014-01-15 |
| 发明（设计）人： | 徐露露;鲁华祥;边昳;龚国良 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 宋焰琴 |
| 地址： | 100083 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种检测聚烯烃材料中的杂质几何特征的方法。该方法包括如下步骤：S1、对聚烯烃材料的样品切片进行显微拍摄，得到该样品切片的原始显微图像；S2、利用带标记的分水岭分割方法对步骤S1所得到的原始显微图像进行分割，得到可能的杂质颗粒区域；S3、根据杂质的几何特征对步骤S2得到的可能的杂质颗粒区域确定最终的杂质颗粒区域；S4、对步骤S3确定的杂质颗粒区域进行标记，统计各个杂质区域的几何特征参数。本发明能有效地识别杂质颗粒的存在与否并能够准确地计算出存在杂质颗粒的尺寸、个数、面积等几何特征。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 数字图像 处理 检测 烯烃 材料 杂质 几何 特征 方法 | ||
【主权项】：
一种检测聚烯烃材料的杂质几何特征的方法，其特征在于：该方法包括如下步骤： S1、对聚烯烃材料的样品切片进行显微拍摄，得到该样品切片的原始显微图像； S2、利用带标记的分水岭分割方法对步骤S1所得到的原始显微图像进行分割，得到可能的杂质颗粒区域； S3、根据杂质的几何特征对步骤S2得到的可能的杂质颗粒区域确定最终的杂质颗粒区域； S4、对步骤S3确定的杂质颗粒区域进行标记，统计各个杂质区域的几何特征参数。
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