[发明专利]半导体封装件在审
申请号: | 201310452241.5 | 申请日: | 2013-09-27 |
公开(公告)号: | CN103700633A | 公开(公告)日: | 2014-04-02 |
发明(设计)人: | 姜明成;高廷旼;朴商植;金沅槿;洪志硕 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L23/29;H01L25/065;H01L21/56 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 韩芳;刘奕晴 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 提供了一种半导体封装件。所述半导体封装件包括:第一半导体芯片;第二半导体芯片,位于第一半导体芯片上;第三半导体芯片,位于第二半导体芯片上;第四半导体芯片,位于第三半导体芯片上。第一底填充层位于第二半导体芯片和第一半导体芯片之间;第二底填充层位于第三半导体芯片和第二半导体芯片之间;第三底填充层位于第四半导体芯片和第三半导体芯片之间。在一些实施例中,第二底填充层包括与第一底填充层和第三底填充层不同的材料。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 | ||
【主权项】:
一种半导体封装件,所述半导体封装件包括:第一半导体芯片;第二半导体芯片,位于第一半导体芯片上;第三半导体芯片,位于第二半导体芯片上;第四半导体芯片,位于第三半导体芯片上;以及第一底填充层,位于第二半导体芯片和第一半导体芯片之间;第二底填充层,位于第三半导体芯片和第二半导体芯片之间;第三底填充层,位于第四半导体芯片和第三半导体芯片之间,其中,第二底填充层包括与第一底填充层和第三底填充层不同的材料。
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