[发明专利]半导体器件及其形成方法、非瞬时计算机可读存储介质有效

专利信息
申请号: 201310446588.9 申请日: 2013-09-26
公开(公告)号: CN103956323B 公开(公告)日: 2017-04-12
发明(设计)人: J.W.阿基森;K.K.钱;D.L.哈拉米;刘奇志;J.J.佩卡里克 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: H01L21/328 分类号: H01L21/328;H01L29/737
代理公司: 北京市柳沈律师事务所11105 代理人: 邱军
地址: 美国纽*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开了半导体器件及其形成方法、非瞬时计算机可读存储介质。本发明具体公开了形成异质结双极晶体管地方法,该方法包括提供包括至少本征基极区域和发射极基座区域的结构。在本征基极区域上形成堆叠。堆叠包括多晶硅层和顶部牺牲氧化物层。在结构中形成沟槽。沟槽限定本征基极区域和堆叠的范围。在堆叠周围的两个区域形成非本征基极。通过选择性外延生长工艺形成非本征基极,以在沟槽之上产生桥。桥连接所述两个区域。在堆叠中提供开口。开口暴露本征基极区域的一部分。在开口中形成发射极。
搜索关键词: 半导体器件 及其 形成 方法 瞬时 计算机 可读 存储 介质
【主权项】:
一种形成异质结双极晶体管的方法,包括以下步骤:提供包括至少本征基极区域和发射极基座区域的结构,其中所述发射极基座区域包括发射极堆叠,所述堆叠包括多晶硅层和顶部牺牲氧化物层;在所述本征基极区域上形成所述堆叠;在所述结构中的堆叠周围形成沟槽,所述沟槽限定所述本征基极区域和所述堆叠的范围;执行选择性外延生长工艺,以在所述堆叠周围形成非本征基极,所述非本征基极在所述沟槽之上产生桥;在所述堆叠中提供开口,所述开口暴露所述本征基极区域的一部分;以及在所述开口中形成发射极。
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