[发明专利]一种使用射频加热的桶式CVD设备反应室有效

专利信息
申请号: 201310437339.3 申请日: 2013-09-24
公开(公告)号: CN103540914A 公开(公告)日: 2014-01-29
发明(设计)人: 王劼;张立国;范亚明;张洪泽 申请(专利权)人: 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
主分类号: C23C16/46 分类号: C23C16/46
代理公司: 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 代理人: 王锋
地址: 215123 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种使用射频加热的桶式CVD设备反应室,包括:具有双层管状结构的水冷壁,该水冷壁的内管腔中设有反应室,而内、外管之间至少与该反应室相应的区域内分布有冷却介质容置腔;设于该反应室内的加热基座,且该加热基座上分布有若干凹槽;分布于该加热基座与水冷壁内管之间的整流罩;至少绕设在该水冷壁外壁上与该反应室相应区域内的感应线圈。本发明通过采用桶式结构的反应室,可以满足多片晶片同时生长,而通过采用射频感应加热,同时有直接热传导和辐射加热,提高了晶片温度分布的均匀性,尤其是对于大尺寸的晶片来说,加热不受反应室直径大小的限制,加热速度快、效率高、温度高、加热状态稳定,适合在大尺寸的高温CVD反应室中使用。
搜索关键词: 一种 使用 射频 加热 cvd 设备 反应
【主权项】:
一种使用射频加热的桶式CVD设备反应室,其特征在于,它包括:具有双层管状结构的水冷壁,所述水冷壁的内管腔中设有反应室,而内、外管之间至少与所述反应室相应的区域内分布有冷却介质容置腔,设于所述反应室内的加热基座,且所述加热基座上分布有一个以上凹槽, 分布于所述加热基座与所述水冷壁内管之间的整流罩,以及,至少绕设在所述水冷壁外壁上与所述反应室相应区域内的感应线圈。
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