[发明专利]半导体集成电路有效
| 申请号： | 201310429392.9 | 申请日： | 2013-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN103679011B | 公开（公告）日： | 2018-06-22 |
| 发明（设计）人： | 天沼佳幸;三好孝典 | 申请（专利权）人： | 瑞萨电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F21/55 | 分类号： | G06F21/55;G06F11/10 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 韩峰;孙志湧 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体集成电路。对存储在LSI中的机密信息进行保护，使其免受出于通过使得LSI故障而获取或伪造机密信息的目的而进行的激光攻击。检测激光攻击，而无论该激光攻击所导致的多比特存储元件中的错误比特的数量如何。提供了一种用于检测逻辑电路中包括的多比特存储元件的攻击检测电路。该攻击检测电路包括能够通过诸如代码原理的逻辑操作进行检测的错误确定电路和具有光线检测元件的光线照射检测电路，该光线检测元件被配置为使得该光线照射检测电路能够检测到该错误确定电路的检测限制以外的比特数量的错误。由于该错误确定电路所进行的错误检测以及该光线照射检测电路所进行的光线照射检测，该电路对来自外界的故障攻击进行补充检测。 | ||
| 搜索关键词： | 光线照射 错误确定 检测电路 电路 检测 半导体集成电路 攻击检测电路 光线检测元件 多比特存储 机密信息 激光攻击 补充检测 错误检测 故障攻击 检测激光 逻辑操作 存储 伪造 攻击 配置 | ||
【主权项】：
1.一种半导体集成电路，所述半导体集成电路包括逻辑电路，所述逻辑电路包括每个均能够存储1比特信息的n个存储元件和攻击检测电路，n是正整数，所述攻击检测电路包括：错误确定电路，所述错误确定电路能够通过逻辑运算来检测出在所述n个存储元件中所存储的n比特代码中已经出现k比特或更少的错误，k是正整数；和光线照射检测电路，所述光线照射检测电路具有光线检测元件，并且能够检测到光线已经照射至所述n个存储元件中的（k+1）个或更多个，其中，当所述错误确定电路检测到错误或者所述光线照射检测电路检测到光线照射时，确定所述逻辑电路已经从外界被攻击。
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