[发明专利]利用间隔物掩模的频率加倍无效
申请号: | 201310416003.9 | 申请日: | 2008-05-30 |
公开(公告)号: | CN103488041A | 公开(公告)日: | 2014-01-01 |
发明(设计)人: | 克里斯多佛·D·本彻尔;堀冈启治 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | G03F1/00 | 分类号: | G03F1/00;H01L21/027;H01L21/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陆嘉 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明利用间隔物掩模的频率加倍。本发明描述了一种用于制造半导体掩模的方法。首先提供具有牺牲掩模和间隔物掩模的半导体叠层。所述牺牲掩模由一系列线构成,并且所述间隔物掩模包括与所述一系列线的侧壁邻接的间隔物线。接着,修剪所述间隔物掩模。最后,去除所述牺牲掩模,以提供经修剪的间隔物掩模。经修剪的间隔物掩模使得牺牲掩模的一系列线的频率加倍。 | ||
搜索关键词: | 利用 间隔 物掩模 频率 加倍 | ||
【主权项】:
一种用于制造半导体掩模的方法,包括:提供具有牺牲掩模的半导体叠层,其中所述牺牲掩模由一系列线构成,所述一系列线中的每一条线具有侧壁和末端;在所述半导体叠层上方并且与所述牺牲掩模共形地沉积间隔物层;刻蚀所述间隔物层,所述刻蚀以提供间隔物掩模并暴露所述牺牲掩模的顶表面,其中所述间隔物掩模具有与所述牺牲掩模的所述一系列线中的每一条线的侧壁邻接的间隔物线、以及所述间隔物掩模的包绕所述一系列线中的每一条线的末端的部分,其中与所述牺牲掩模的所述一系列线中的每一条线的侧壁邻接的所述间隔物线和与所述牺牲掩模的所述一系列线中的所有其他线的侧壁邻接的所述间隔物线是不连续的;在所述间隔物掩模和所述牺牲掩模上方沉积并图案化光刻胶层,以形成所述间隔物掩模的包绕所述一系列线中的每一条线的末端的暴露部分;刻蚀所述间隔物掩模的所述暴露部分,从而通过去除所述间隔物掩模的包绕所述一系列线中的每一条线的末端的所述部分来修剪所述间隔物掩模;以及在刻蚀所述间隔物掩模之后,去除所述牺牲掩模以提供经修剪的间隔物掩模。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
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G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
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