[发明专利]基于高分子材料老化试验的太阳光辐照的监测及分析方法有效
| 申请号： | 201310413915.0 | 申请日： | 2013-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN103499390A | 公开（公告）日： | 2014-01-08 |
| 发明（设计）人： | 冯皓;马坚;秦汉军 | 申请（专利权）人： | 中国电器科学研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01N17/00 |
| 代理公司： | 广州知友专利商标代理有限公司 44104 | 代理人： | 宣国华 |
| 地址： | 510300 *** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了基于高分子材料老化试验的太阳光辐照的监测及分析方法，包括步骤（1）在大气暴露试验场内选择与试验样品处于同等光辐照条件的位置作为监测点，对该监测点的太阳光谱进行测量，获得以波长λ为横坐标瞬时太阳光辐照强度Eeλ为纵坐标的瞬时太阳光谱图，以及当次测量的总太阳光辐照强度Ee，每天监测的太阳光谱数据不少于50组；（2）根据步骤（1）获得的数据，分析高分子材料试验样品老化历程、预测高分子材料试验样品的使用寿命，并且为开发高分子材料人工光老化加速试验方法和试验设备提供依据。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 高分子材料 老化试验 太阳光 辐照 监测 分析 方法 | ||
【主权项】：
基于高分子材料老化试验的太阳光辐照的监测及分析方法，该方法包括如下步骤：（1）在大气暴露试验场内，选择与高分子材料试验样品处于同等太阳辐照条件的位置作为监测点，对该监测点的太阳光谱进行测量，获得以波长λ为横坐标、瞬时太阳光辐照强度Eeλ为纵坐标的瞬时太阳光谱图，以及当次测量的总太阳光辐照强度Ee，每天监测的太阳光谱数据不少于50组；（2）根据步骤（1）获得的数据，分析高分子材料试验样品老化历程、预测高分子材料试验样品的使用寿命，并且为开发高分子材料人工光老化加速试验方法和试验设备提供依据。
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