[发明专利]一种检测氟化聚酰亚胺薄膜耐表面放电性的方法无效
| 申请号： | 201310406651.6 | 申请日： | 2013-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN103467767A | 公开（公告）日： | 2013-12-25 |
| 发明（设计）人： | 杜伯学;杜恒;杜伟 | 申请（专利权）人： | 天津学子电力设备科技有限公司 |
| 主分类号： | C08J7/12 | 分类号： | C08J7/12;C08L79/08;G01R31/12 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300072 天津市滨*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种检测氟化聚酰亚胺薄膜耐表面放电性的方法，它通过，利用卤族元素强的氧化性，采用氟气对聚酰亚胺薄膜系列产品进行表面氟化处理，替换薄膜表面一层分子结构中C-H结构上的氢原子，形成一层均匀分布的C-F结构。此层能够有效阻止表面和空间电荷的积累，抑制局部放电的发生，从而显著提高其耐电晕时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 氟化 聚酰亚胺 薄膜 表面 放电 方法 | ||
【主权项】：
本发明专利涉及一种检测氟化聚酰亚胺薄膜耐表面放电性的方法，它包括：1.本发明通过利用卤族元素强的氧化性，采用卤族元素气体氟气对聚酰亚胺薄膜系列产品进行表面氟化，替换薄膜表面一层分子结构中C-H结构上的氢原子，形成一层均匀分布的C-F结构。此层能够有效阻止表面和空间电荷的积累，抑制局部放电的发生，从而显著提高其耐电晕时间。
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