[发明专利]基于B样条曲面拟合的TFT-LCD Mura缺陷机器视觉检测方法

摘要

本发明公开一种基于B样条曲面拟合的TFT-LCD Mura缺陷的机器视觉检测方法，属于LCD显示缺陷检测领域，包括以下步骤：通过CCD相机采集被点亮的待测LCD灰度图像；对原始图像滤波；提取感兴趣区域；采用双三次B样条曲面拟合的方法拟合出图像背景；用原始图像减去背景图像，得到消除亮度不均匀背景后的图像；利用Canny算子检测出Mura缺陷；确定缺陷等级。本发明的有益效果是：该检测方法具有可靠、准确度高、计算省时的优点。

主权项

一种基于B样条曲面拟合的TFT‑LCD Mura缺陷机器视觉检测方法，其特征在于，包括如下步骤：（1）在暗室中通过CCD相机采集到被点亮的TFT‑LCD灰度图像，设定了采集图像时环境的照度、温度、湿度以及CCD相机的采集图像的角度和到TFT‑LCD的距离，将图像传入计算机；（2）对原始图像做滤波处理；（3）感兴趣区域分割，将LCD图像从带有载物台背景的图像中分割出来；（4）采用基于B样条的最小二乘法的曲面拟合方法，拟合出一个近似通过LCD图像上给定数据点、能反映图像背景基本变化趋势的B样条曲面；（5）用滤波处理和感兴趣区域分割之后的LCD图像减去拟合出的背景，得到消除亮度不均匀背景后的图像；（6）采用Canny算子分割步骤（5）得到的图像，将Mura缺陷区域分割出来；（7）计算步骤（6）得到的Mura区域的面积、Mura区域亮度平均值，计算步骤（3）得到LCD图像背景亮度平均值；（8）参照SEMU标准，按照步骤（7）计算出的缺陷面积、缺陷亮度平均值、LCD图像背景亮度平均值计算出缺陷等级。