[发明专利]含锗为主的沟道层的晶体管装置的制作方法与微电子装置有效
申请号: | 201310394909.5 | 申请日: | 2013-09-03 |
公开(公告)号: | CN103681353B | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | 莱斯柏斯·维特斯;汎斯·利塔;马克·凡·戴尔;布兰寇·大卫 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司;跨大学校际微电子卓越研究中心 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L21/28;H01L29/45;H01L29/78 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司72003 | 代理人: | 张浴月,张志杰 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供包含锗为主的沟道层的晶体管装置的制作方法与微电子装置,该方法包括形成栅极结构于锗为主的沟道层上,锗为主的沟道层位于基板上,且栅极堆叠位于锗为主的沟道层其相反两侧的锗为主的源极区与锗为主的漏极区之间;形成盖层于锗为主的源极区与锗为主的漏极区上,且盖层包括硅与锗;沉积金属层于盖层上;进行温度步骤,使至少部分盖层转变为金属锗硅化物,金属锗硅化物不溶于蚀刻品,且蚀刻品用以溶解金属层;以蚀刻品自基板选择性地移除未消耗的金属层;以及形成金属前介电层。本发明提供的方法,以锗化工艺制作具有锗为主的沟道层以及锗为主的源极与漏极的晶体管装置,并减少形成孔洞。 | ||
搜索关键词: | 为主 沟道 晶体管 装置 制作方法 微电子 | ||
【主权项】:
一种包含锗为主的沟道层的晶体管装置的制作方法,包括:形成一栅极结构于该锗为主的沟道层上,该锗为主的沟道层位于一基板上,且该栅极堆叠位于该锗为主的沟道层其相反两侧的一锗为主的源极区与一锗为主的漏极区之间;形成一盖层于该锗为主的源极区与该锗为主的漏极区上,且该盖层包括硅与锗,其中该盖层中较上层的锗浓度大于较下层的锗浓度;沉积一金属层于该盖层上;进行一温度步骤,使至少部分该盖层转变为一金属锗硅化物,该金属锗硅化物不溶于一蚀刻品,且该蚀刻品用以溶解该金属层;以该蚀刻品自该基板选择性地移除未消耗的该金属层;以及形成一金属前介电层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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