[发明专利]基于激光合成波长干涉原理的波长测量方法及装置在审

专利信息
申请号: 201310386783.7 申请日: 2013-08-29
公开(公告)号: CN103439010A 公开(公告)日: 2013-12-11
发明(设计)人: 陈本永;严利平;田秋红;刘燕娜;楼盈天 申请(专利权)人: 浙江理工大学
主分类号: G01J9/02 分类号: G01J9/02
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 林怀禹
地址: 310018 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种基于激光合成波长干涉原理的波长测量方法及装置。将参考激光器和待测激光器的输出光束调制成正交线偏振光,入射到激光合成波长干涉仪,分别形成各自的干涉信号;干涉仪的第一角锥棱镜移动时,两路干涉信号的相位差变化2π对应于第一角锥棱镜移动半个由参考激光波长λR和待测激光波长λU形成的合成波长λS的位移;当λS较小时,检测两路干涉信号两次同时过零点的位置,测得λS值;当λS较大时,先移动第二角锥棱镜,然后检测两路干涉信号两次同时过零点位置,再结合第二角锥棱镜位移和第一角锥棱镜位移之间的对应关系求出λS值;最后根据λU和λR与λS之间的关系,得到待测激光波长值。本发明激光波长测量范围大,抗环境干扰能力强,波长测量精度高。
搜索关键词: 基于 激光 合成 波长 干涉 原理 测量方法 装置
【主权项】:
一种基于激光合成波长干涉原理的波长测量方法,其特征在于:(1)参考激光器和待测激光器的输出光束经各自的偏振片后,成为正交线偏振光,入射到激光合成波长干涉仪,形成各自的干涉信号,分别由两个光电探测器接收,干涉仪中的第一角锥棱镜移动时,参考激光波长λR和待测激光波长λU的干涉信号的相位关系将发生变化,当这两路干涉信号相位差变化2π时对应于第一角锥棱镜移动半个由λR和λU形成的合成波长的位移,即λS/2;(2)当参考激光波长λR和待测激光波长λU的差大于或等于0.7pm时,形成的半个合成波长λS小于第一角锥棱镜的运动范围300mm,此时,通过移动第一角锥棱镜,检测波长λR和波长λU的干涉信号两次同时过零点所对应的位移,测得合成波长λS/2值;(3)当参考激光波长λR和待测激光波长λU的差小于0.7pm时,形成的半个合成波长λS大于第一角锥棱镜的运动范围300mm,此时,根据激光合成波长干涉原理可知:第一角锥棱镜移动位移ΔL和第二角锥棱镜移动位移Δl之间存在对应关系 ΔL = λ S λ R Δl , 因此,先移动第二角锥棱镜小于λR/2的位移Δl来补偿部分第一角锥棱镜需要移动的位移,然后再移动第一角锥棱镜,检测波长λR和波长λU的干涉信号两次同时过零点所对应的位移ΔL′,求得合成波长值 λ S = 2 ( ΔL + λ S λ R Δl ) ; (4)最后,根据待测激光波长λU和参考激光波长λR与合成波长λS之间的关系,得到待测激光器的波长 λ U = λ S λ R λ S ± λ R .
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