[发明专利]用于确定缺陷像素的设备和方法

摘要

本发明提供一种用于确定缺陷像素的设备和方法，其中，所述设备包括第一边缘周围缺陷确定器和第二边缘周围缺陷确定器中的至少一个，其中，第一边缘周围缺陷确定器被配置为通过使用与布置在与图像边缘接近的中心像素邻近的像素的像素值来确定像素组的中心像素是否是缺陷像素，其中，所述边缘包括中心像素的右、左、上、下、左下、右下、左上和右上像素中的至少一个，第二边缘周围缺陷确定器被配置为通过使用布置在中心像素的左下、右下、左上和右上中的至少一个上的像素来确定中心像素是否是缺陷像素。

主权项

一种用于确定缺陷像素的设备，所述设备包括：第一差计算单元，被配置为计算第一像素组的多个像素值中的第一最大值和第一最小值之间的第一差值，其中，所述第一像素组包括与中心像素邻近并且处于与中心像素相同的颜色层上的第一像素；第二差计算单元，被配置为计算第二像素组的多个像素值中的第二最大值和第二最小值之间的第二差值，其中，所述第二像素组包括与中心像素邻近并且处于与中心像素相同的颜色层上的第二像素；确定单元，被配置为基于第一最大值或第一最小值和中心像素的像素值之间的关系、第一差值和第二差值来确定中心像素是否是缺陷像素，其中，中心像素被布置在包括第一像素组和第二像素组的像素组的中心。