[发明专利]鳍式场效应晶体管及其形成方法有效
申请号: | 201310379961.3 | 申请日: | 2013-08-27 |
公开(公告)号: | CN104425269B | 公开(公告)日: | 2017-07-14 |
发明(设计)人: | 张海洋;王冬江 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L21/28;H01L29/78;H01L29/423 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 骆苏华 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种鳍式场效应晶体管及其形成方法,其中,鳍式场效应晶体管的形成方法包括提供基底,在基底上形成有鳍部;在鳍部表面选择性生长拓扑绝缘体层;形成栅介质层,栅介质层覆盖拓扑绝缘体层,形成横跨栅介质层的第一栅极;分别去除鳍部两端的栅介质层和拓扑绝缘体层,在暴露的鳍部表面形成具有掺杂的外延层,外延层与第一栅极之间为剩余的栅介质层和拓扑绝缘体层所隔开,鳍部两端具有掺杂的外延层分别作为源极、漏极。在源极与漏极之间施加电压,拓扑绝缘体层表面导通,拓扑绝缘体层表面作为沟道区;在栅极与源极之间施加电压,该电压引发的电场可以调节拓扑绝缘体层表面的载流子浓度。沟道区中的载流子不会碰撞、干扰,提升了载流子的迁移率。 | ||
搜索关键词: | 场效应 晶体管 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
一种鳍式场效应晶体管的形成方法,其特征在于,包括:提供基底,在所述基底上形成有鳍部;在所述鳍部表面选择性生长拓扑绝缘体层;形成栅介质层,所述栅介质层覆盖拓扑绝缘体层,形成横跨所述栅介质层的第一栅极;去除所述鳍部两端的栅介质层和拓扑绝缘体层,在暴露的鳍部表面形成具有掺杂的外延层,所述外延层与第一栅极之间为剩余的栅介质层和拓扑绝缘体层所隔开,所述鳍部两端具有掺杂的外延层分别作为源极、漏极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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