[发明专利]一种硅压阻式压力传感器芯片有效

专利信息
申请号: 201310375752.1 申请日: 2013-08-26
公开(公告)号: CN104425485B 公开(公告)日: 2017-03-15
发明(设计)人: 曹钢;李凡亮;刘胜;付兴铭 申请(专利权)人: 武汉飞恩微电子有限公司
主分类号: H01L27/04 分类号: H01L27/04;G01L1/18
代理公司: 上海市华诚律师事务所31210 代理人: 李平
地址: 430075 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 一种硅压阻式压力传感器芯片,包括硅压阻式压力传感器基本体、隔离层、增稳层、金属层、接触孔、硅衬底重掺杂区,其特征在于所述硅压阻式压力传感器由SOI硅片制作,在压敏电阻下方埋有二氧化硅层,隔离层覆盖在硅压阻式压力传感器基本体上,隔离层上刻蚀有接触孔,孔内充有金属,该金属与硅衬底重掺杂区进行欧姆接触并与芯片表面的金属层相连,增稳层设置在隔离层上,增稳层与接触孔内的金属经金属层实现电气连接,金属层上形成芯片的最高电位点,即传感器的供电焊盘。本发明的优点是在于未大幅改动传统硅压阻式压力传感器芯片的结构前提下,只需稍微改变一下硅压阻式压力传感器芯片的结构,增加少量工艺步骤就可以显著提升其输出稳定性。
搜索关键词: 一种 硅压阻式 压力传感器 芯片
【主权项】:
一种硅压阻式压力传感器芯片,包括:硅压阻式压力传感器基本体、隔离层、增稳层、金属层、接触孔、硅衬底重掺杂区,硅压阻式压力传感器基本体由压敏电阻、内部互连、压力感应膜片、焊盘、硅基体、二氧化硅埋层组成,其特征在于由SOI硅片制作的硅压阻式压力传感器芯片表面依次沉积隔离层和增稳层,在压敏电阻下方埋有二氧化硅层,由二氧化硅或氮化硅或二者组成复合层的隔离层覆盖在硅压阻式压力传感器基本体上,隔离层上刻蚀有接触孔,接触孔的位置处于硅衬底重掺杂区上方,接触孔内填充有金属,该金属与下方的硅衬底上重掺杂区进行欧姆接触,并与芯片表面的金属层相连,经化学气相沉积、蒸发、溅射方法制作的增稳层设置在隔离层上,由扩散掺杂或离子注入掺杂的方式在SOI硅片的表面衬底上制作的硅衬底重掺杂区为低阻区域,增稳层与接触孔内的金属经金属层实现电气连接,金属层上形成芯片的最高电位点,即传感器的供电焊盘。
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