[发明专利]晶圆级一次性编程OTP芯片测试方法及装置有效
| 申请号： | 201310370325.4 | 申请日： | 2013-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN104422865B | 公开（公告）日： | 2017-06-20 |
| 发明（设计）人： | 王亦农;沃良珉;郑玲玲;周彦杰;王海群 | 申请（专利权）人： | 上海东软载波微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 | 代理人： | 程爽 |
| 地址： | 200235 上海市徐汇区龙*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种晶圆级一次性编程OTP芯片测试方法及装置，所述方法包括根据测试程序，对一次性编程OTP芯片自身进行测试，所述测试程序预先烧录在所述OTP芯片的供用户使用的一次性编程只读存储器OTP ROM中；对所述OTP芯片进行紫外线擦除处理。本发明提供的晶圆级OTP芯片测试方法及装置，通过根据预先烧录在供用户使用的OTP ROM中的测试程序，对所述OTP芯片进行测试，并对所述OTP芯片进行紫外线擦除处理的方案，无需在OTP芯片中内嵌专用于存放测试程序的OTP ROM，从而在成本有限的情况下实现对芯片进行有效的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 晶圆级 一次性 编程 otp 芯片 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种晶圆级一次性编程OTP芯片测试方法，其特征在于，包括：根据测试程序，对一次性编程OTP芯片自身进行测试，所述测试程序预先烧录在所述OTP芯片的供用户使用的一次性编程只读存储器OTP ROM中；测试完成后，对所述OTP芯片进行紫外线擦除处理，以恢复所述供用户使用的OTP ROM的一次性编程功能；所述测试程序包括多个子测试程序；每个所述子测试程序对应至少一项功能测试；所述根据所述测试程序，对所述OTP芯片自身进行测试，具体包括：复位所述OTP芯片，获取当前的选择标识；若所述选择标识不为预设的多个标识之一，则通过控制所述OTP芯片运行预设的初始子测试程序，对所述OTP芯片进行功能测试，若所述功能测试通过，则设置所述选择标识为所述多个标识中的任一标识，并再次执行所述复位所述OTP芯片的步骤；其中，所述初始子测试程序为所述多个子测试程序中的任一子测试程序，所述多个标识与所述多个子测试程序中除所述初始子测试程序以外的其它子测试程序一一对应；若所述选择标识为所述多个标识之一，则通过控制所述OTP芯片运行所述选择标识对应的子测试程序，对所述OTP芯片进行功能测试，若所述功能测试通过，则设置所述选择标识为当前未被所述OTP芯片运行的任一子测试程序对应的标识，并再次执行所述复位所述OTP芯片的步骤，直至所述多个子测试程序对应的功能测试均通过测试，则所述OTP芯片合格，否则，所述OTP芯片不合格。
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