[发明专利]一种镧钴取代锶铁氧体永磁材料中镧钴离子迁移的表征分析方法有效
申请号: | 201310354819.3 | 申请日: | 2013-08-15 |
公开(公告)号: | CN103408296A | 公开(公告)日: | 2013-11-27 |
发明(设计)人: | 孙延杰;王占勇;金双玲;金鸣林 | 申请(专利权)人: | 上海应用技术学院 |
主分类号: | C04B35/26 | 分类号: | C04B35/26;C04B35/622 |
代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人: | 吴宝根 |
地址: | 200235 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种镧钴取代锶铁氧体永磁材料中镧钴离子迁移的表征分析方法,将含锶的铁氧体预烧料分别与不含镧钴和含镧钴的二次添加的助剂在球磨机内混合与球磨,分离脱水的不含镧钴的料浆采用湿法成型制备成圆形坯体,然后将坯体取出,在压机槽中添加含镧钴的料浆并将之前压好的坯体放置于料浆上方压制成混合圆形坯体,成型后的坯体进入隧道窑按一定的工艺制度进行烧结,得到烧结好的混合锶铁氧体永磁材料,然后把样品表面从上向下逐层磨去1-2mm,用X射线荧光光谱分析仪对此表面进行分析,进而得到若干个面的镧钴元素含量,最后绘制镧钴元素含量随迁移距离变化图,直观的显示出镧钴离子在锶铁氧体永磁材料中的迁移。 | ||
搜索关键词: | 一种 取代 铁氧体 永磁 材料 中镧钴 离子 迁移 表征 分析 方法 | ||
【主权项】:
一种镧钴取代锶铁氧体永磁材料中镧钴离子迁移的表征分析方法,其特征在于具体步骤包括:(1) 含锶的铁氧体预烧料与不含镧钴二次添加的助剂在球磨机内混合,经湿法球磨后浆料平均粒度达到0.6‑1.0μm,合格后脱水分离,脱水后的浆料含水率在25‑40%之间;其中,所述的含锶的铁氧体预烧料化学式为SrFe12Ol9;所述的不含镧钴的二次添加的助剂由Al2O3、CaCO3、SiO2和H3BO3组成,所述锶铁氧体预烧料与不含镧钴二次添加的助剂的质量比为为1:0.027;(2) 含锶的铁氧体预烧料与含镧钴的二次添加的助剂在球磨机内混合,经湿法球磨后浆料平均粒度达到0.6‑1.0μm,合格后脱水分离,脱水后的浆料含水率在25‑40%之间;其中,所述的含锶的铁氧体预烧料化学式为SrFe12Ol9;所述的含镧钴的二次添加的助剂由铁红、CaCO3、SiO2、H3BO3、La2O3和CoO组成,所述锶铁氧体预烧料与含镧钴的二次添加的助剂的质量比为1:0.142;(3) 将步骤(1)所得的分离脱水的不含镧钴的料浆采用湿法成型制备成直径为25‑40mm,厚度为4‑6mm的坯体,然后将坯体取出,在压机槽中添加步骤(2)所得含镧钴的料浆并将之前压制好的坯体放置于料浆上方压制成直径为25‑40mm,厚度为8‑12mm的混合坯体;(4) 将步骤(3)成型合格的坯体在自然环境中放置24‑48小时风干,然后放入连续推进的隧道窑中进行高温烧结,烧结工艺的烧结温度为950‑1245℃,烧结时间20‑30小时,最后得到烧结好的混合锶铁氧体永磁材料;(5) 将步骤(4)烧结好的锶铁氧体永磁材料圆柱体上面和底面打磨平整;(6) 将步骤(5)处理好的圆柱体用X射线荧光光谱分析仪对圆柱体上下两个表面进行元素定性和定量分析;(7) 将步骤(6)检测完的圆柱体的无镧钴部分的表面磨去1‑2mm,然后用X射线荧光光谱分析仪对此表面进行元素定性和定量分析,再次依次逐层磨去1‑2mm,同时用X射线荧光光谱分析仪对此表面进行元素定性和定量分析,进而得到4‑11个面的镧钴元素含量,最后绘制成图,直观的表征了镧钴取代的锶铁氧体永磁材料中离子迁移的规律。
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