[发明专利]一种TiO2/TiO2Au/Au结构Au电极的制备方法有效

专利信息
申请号: 201310331574.2 申请日: 2013-07-31
公开(公告)号: CN103401052A 公开(公告)日: 2013-11-20
发明(设计)人: 李玲霞;于仕辉;董和磊;许丹;金雨馨 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: H01P11/00 分类号: H01P11/00
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 张宏祥
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种TiO2/TiO2Au/Au结构Au电极的制备方法,先将显影后的基片放入多靶共溅磁控溅射腔体中,装上Ti和Au靶材;然后对Ti靶材进行溅射,制备TiO2层;再同时对Ti和Au靶材进行溅射,制备TiO2Au混合层;再对Au靶材进行溅射,Au层的沉积厚度为50nm-1000nm;最后取出基片对其进行剥离,即制得所需Au电极。本发明的电极具有较厚的Au层,在高温退火后,仍具有优异的电传导性,而且制备工艺简单、电极性能优良,具有良好的应用前景。
搜索关键词: 一种 tio sub au 结构 电极 制备 方法
【主权项】:
一种TiO2/TiO2Au/Au结构Au电极的制备方法,电极结构为TiO2/TiO2Au/Au,制备步骤如下:(1)清洗基片及光刻显影a.将基片放入丙酮中超声清洗20分钟,用去离子水冲洗后烘干;b.将烘干后的基片放入酒精中清洗20分钟,用去离子水冲洗后用氮气吹干;c.将光刻胶旋涂在基片上,厚度1um‑4um,烘干后使用光刻掩膜版做曝光处理;d.使用显影液将电极图形显影出来;(2)将显影后的基片放入多靶共溅磁控溅射腔体中,在一个溅射靶上装上Ti靶材,在另一个溅射靶上装上Au靶材;(3)当磁控溅射的真空度<1.0×10‑5Torr时,通入氧气和氩气后,开始对Ti靶材进行溅射,制备TiO2层,TiO2层的沉积厚度为3nm‑200nm;(4)步骤(3)停止后,同时通入氧气和氩气,打开Ti靶和Au靶的溅射电源,同时对Ti靶材和Au靶材进行溅射,TiO2Au混合层的沉积厚度为3nm‑200nm;(5)步骤(4)停止后,打开Au靶的溅射电源,对Au靶材进行溅射,Au层的沉积厚度为50nm‑1000nm。(6)步骤(5)停止后,取出基片,对其进行剥离,剥离后即得到所需要的电极。
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