[发明专利]原子力显微镜针尖基底微小距离控制方法在审

专利信息
申请号: 201310317582.1 申请日: 2013-07-25
公开(公告)号: CN104345739A 公开(公告)日: 2015-02-11
发明(设计)人: 焦念东;刘增磊;王越超;刘连庆 申请(专利权)人: 中国科学院沈阳自动化研究所
主分类号: G05D3/12 分类号: G05D3/12;B82Y35/00
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 代理人: 周秀梅;许宗富
地址: 110016 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明公开一种原子力显微镜(AFM)针尖基底距离控制的方法。调节针尖与基底接触并且压力为零,以此状态作为初始状态;控制压电陶瓷收缩,带动探针向上运动,使AFM探针的针尖离开基底,所述针尖和基底表面的水膜形成液桥,通过调节AFM的压电陶瓷的伸缩使AFM探针的悬梁臂发生相应程度的形变;根据悬梁臂发生的形变计算针尖和基底的距离。该方法利用空气中物体表面广泛存在的水膜的吸附作用力,实现针尖距离基底的微小变化的调节。该方法可用于纳米沉积加工等需要针尖距离基底很近的场合。
搜索关键词: 原子 显微镜 针尖 基底 微小 距离 控制 方法
【主权项】:
一种原子力显微镜针尖基底微小距离控制方法,其特征在于,包括以下步骤:调节针尖与基底接触并且压力为零,以此状态作为初始状态;控制压电陶瓷收缩,带动探针向上运动,使AFM探针的针尖离开基底,所述针尖和基底表面的水膜形成液桥,通过调节AFM的压电陶瓷的伸缩使AFM探针的悬梁臂发生相应程度的形变;根据悬梁臂发生的形变计算针尖和基底的距离。
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