[发明专利]原子力显微镜针尖基底微小距离控制方法在审
申请号: | 201310317582.1 | 申请日: | 2013-07-25 |
公开(公告)号: | CN104345739A | 公开(公告)日: | 2015-02-11 |
发明(设计)人: | 焦念东;刘增磊;王越超;刘连庆 | 申请(专利权)人: | 中国科学院沈阳自动化研究所 |
主分类号: | G05D3/12 | 分类号: | G05D3/12;B82Y35/00 |
代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人: | 周秀梅;许宗富 |
地址: | 110016 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明公开一种原子力显微镜(AFM)针尖基底距离控制的方法。调节针尖与基底接触并且压力为零,以此状态作为初始状态;控制压电陶瓷收缩,带动探针向上运动,使AFM探针的针尖离开基底,所述针尖和基底表面的水膜形成液桥,通过调节AFM的压电陶瓷的伸缩使AFM探针的悬梁臂发生相应程度的形变;根据悬梁臂发生的形变计算针尖和基底的距离。该方法利用空气中物体表面广泛存在的水膜的吸附作用力,实现针尖距离基底的微小变化的调节。该方法可用于纳米沉积加工等需要针尖距离基底很近的场合。 | ||
搜索关键词: | 原子 显微镜 针尖 基底 微小 距离 控制 方法 | ||
【主权项】:
一种原子力显微镜针尖基底微小距离控制方法,其特征在于,包括以下步骤:调节针尖与基底接触并且压力为零,以此状态作为初始状态;控制压电陶瓷收缩,带动探针向上运动,使AFM探针的针尖离开基底,所述针尖和基底表面的水膜形成液桥,通过调节AFM的压电陶瓷的伸缩使AFM探针的悬梁臂发生相应程度的形变;根据悬梁臂发生的形变计算针尖和基底的距离。
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