[发明专利]3D磁传感器的形成方法有效
申请号: | 201310315009.7 | 申请日: | 2013-07-24 |
公开(公告)号: | CN103400935A | 公开(公告)日: | 2013-11-20 |
发明(设计)人: | 熊磊;奚裴;张振兴 | 申请(专利权)人: | 上海宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L43/12 | 分类号: | H01L43/12 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 张亚利;骆苏华 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种3D磁传感器的形成方法,包括:提供衬底,在衬底上形成有绝缘层、位于绝缘层中的沟槽,沟槽的深度小于绝缘层的厚度;形成磁性材料层,磁性材料层覆盖绝缘层、沟槽的底部和侧壁,在磁性材料层上形成TaN层;在TaN层上形成填充材料层,填充材料层填充满沟槽;在填充材料层上形成图形化的光刻胶层,以图形化的光刻胶层为掩模,等离子体刻蚀填充材料层;干法刻蚀去除沉积在图形化的光刻胶层上表面和侧面的Ta基聚合物,Ta基聚合物是在刻蚀填充材料层过程形成;以图形化的光刻胶层为掩模刻蚀TaN层;去除图形化的光刻胶层和剩余填充材料层;刻蚀磁性材料层形成磁阻层。去除Ta基聚合物,避免了TaN层表面电阻增大。 | ||
搜索关键词: | 传感器 形成 方法 | ||
【主权项】:
一种3D磁传感器的形成方法,其特征在于,包括:提供衬底,在所述衬底上形成有绝缘层、位于所述绝缘层中的沟槽,所述沟槽的深度小于所述绝缘层的厚度;形成磁性材料层,所述磁性材料层覆盖绝缘层、沟槽的底部和侧壁,在所述磁性材料层上形成TaN层;在所述TaN层上形成填充材料层,所述填充材料层填充满沟槽;在所述填充材料层上形成图形化的光刻胶层,所述图形化的光刻胶层定义磁阻层的位置,以所述图形化的光刻胶层为掩模,等离子体刻蚀所述填充材料层至TaN层表面停止;使用干法刻蚀去除沉积在图形化的光刻胶层上表面和侧面的Ta基聚合物,所述Ta基聚合物是在等离子体刻蚀所述填充材料层过程中产生;去除所述Ta基聚合物后,以图形化的光刻胶层为掩模刻蚀TaN层;去除所述图形化的光刻胶层和剩余的填充材料层;在去除所述图形化的光刻胶层和剩余的填充材料层之前或之后,刻蚀所述磁性材料层形成磁阻层。
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