[发明专利]测试装置及其控制方法在审
申请号: | 201310290116.9 | 申请日: | 2013-07-11 |
公开(公告)号: | CN103543102A | 公开(公告)日: | 2014-01-29 |
发明(设计)人: | 金钟哲 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G01N21/00 | 分类号: | G01N21/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 张波 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明提供了一种用于检测微流体装置的检测对象的测试装置及其控制方法。该测试装置包括:光发射元件,配置为发射光到微流体装置上;光接收元件,配置为通过从光发射元件发射的光来捕获检测对象的图像;以及控制器,配置为确定检测对象的图像的预定区域的信号值,并根据信号值和预定目标值之间的差异来调节光接收元件的曝光量级。 | ||
搜索关键词: | 测试 装置 及其 控制 方法 | ||
【主权项】:
一种测试装置,用于检测微流体装置的检测对象,所述测试装置包括:光发射元件,发射光到所述微流体装置上;光接收元件,通过从所述光发射元件发射的光来捕获所述检测对象的图像;以及控制器,计算对于由所述光接收元件捕获的所述检测对象的所述图像上的预定区域的信号值并根据计算的信号值和预定目标值之间的差异来调节所述光接收元件的曝光量级。
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