[发明专利]基于傅立叶变换红外光谱分析仪的半透明材料吸收系数测量方法有效
申请号: | 201310271945.2 | 申请日: | 2013-07-02 |
公开(公告)号: | CN103344601A | 公开(公告)日: | 2013-10-09 |
发明(设计)人: | 牛春洋;王大林;齐宏;阮立明 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G01N21/35 | 分类号: | G01N21/35 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 岳泉清 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 基于傅立叶变换红外光谱分析仪的半透明材料吸收系数测量方法,本发明涉及材料热物性测量领域,具体涉及一种半透明材料吸收系数测量方法。本发明为了解决现有的半透明材料吸收系数测量方法存在操作复杂,测量速度慢的问题。本发明是基于傅立叶变换红外光谱分析仪实现的,本发明利用试件的光谱透过率τλ与该试件材料的反射率ρλ,根据贝尔定律计算获得该试件材料的光谱吸收系数kaλ,利用该试件材料的光谱吸收系数kaλ,对全光谱进行积分,获得普朗克平均吸收系数kap和罗斯兰德平均吸收系数kaR,并作为半透明材料吸收系数的测量结果,完成基于傅立叶变换红外光谱分析仪的半透明材料吸收系数测量。本发明适用于半透明材料吸收系数测量。 | ||
搜索关键词: | 基于 傅立叶 变换 红外 光谱分析 半透明 材料 吸收系数 测量方法 | ||
【主权项】:
基于傅立叶变换红外光谱分析仪的半透明材料吸收系数测量方法,它是基于傅立叶变换红外光谱分析仪实现的;该光谱分析仪包括:电源(1)、干涉仪(2)、光源(3)、测量室(4)、全反镜(5)和探测器(6);干涉仪(2)包括一号全反镜(2‑1)、二号全反镜(2‑2)、半反半透镜(2‑3)、透镜(2‑4)和三号全反镜(2‑5);光源(3)发出的光束发射至干涉仪(2)的半反半透镜(2‑3),经半反半透镜(2‑3)后的反射光束经一号全反镜(2‑1)后反射回半反半透镜(2‑3),经半反半透镜(2‑3)透射后入射至透镜(2‑4),经半反半透镜(2‑3)后的透射光束经二号全反镜(2‑2)后反射回半反半透镜(2‑3),经半反半透镜(2‑3)反射后入射至透镜(2‑4);经透镜(2‑4)透射后的光束经三号全反镜(2‑5)入射至测量室(4),经测量室(4)测量后的光束经全反镜(5)入射至探测器(6)的光敏面;电源(1)用于为干涉仪(2)、光源(3)和探测器(6)供电;测量室(4)包括试件架(4‑1),试件架(4‑1)用于固定试件;所述试件的中心与经三号全反镜(2‑5)后光束的光轴和全反镜(5)的中心位于一条直线上,且经三号全反镜(2‑5)发射后光束与试件表面垂直;其特征在于,该方法的具体步骤为:步骤一、打开傅立叶变换红外光谱分析仪的电源(1),并预热n分钟,n≥20,预热结束后采集一次试件的辐射能量Iλ;步骤二、将试件放入测量室(4)内,固定在试件架(4‑1)上,对透射的辐射能量Iλ,L进行采集,得到该试件(5)的光谱透射率τλ;步骤三、利用获得的试件的光谱透过率τλ与该试件材料的反射率ρλ,根据贝尔定律计算获得该试件材料的光谱吸收系数kaλ;步骤四、利用获得该试件材料的光谱吸收系数kaλ,对全光谱进行积分,获得普朗克平均吸收系数kap和罗斯兰德平均吸收系数kaR,并作为半透明材料吸收系数的测量结果,完成基于傅立叶变换红外光谱分析仪的半透明材料吸收系数测量。
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