[发明专利]传感器及其制造方法有效
申请号: | 201310271600.7 | 申请日: | 2010-03-24 |
公开(公告)号: | CN103545328A | 公开(公告)日: | 2014-01-29 |
发明(设计)人: | 陈志源;詹姆斯·G·费兰札;克莱文·沈;安东尼·J·罗特费尔德 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H01L21/02 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 石海霞;郑特强 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 公开一种传感器及其制造方法,该方法包括:提供结晶半导体基板;形成第一图案化沟槽结构于结晶半导体基板中;形成一第二图案化沟槽结构于第一图案化沟槽结构中,第二图案化沟槽结构的宽度小等于第一图案化沟槽结构的宽度;形成深宽比捕获材料于第一图案化沟槽结构与第二图案化沟槽结构中,形成于第二图案化沟槽结构中的深宽比捕获材料具有差排缺陷,位于第一图案化沟槽结构中的该深宽比捕获材料不会出现差排缺陷;制作一光检测器,形成于深宽比捕获材料上或于深宽比捕获材料中,以输出电子,电子是于光检测器中通过光吸收所产生。本发明利用深宽比捕获材料将以非硅为主体的半导体元件整合于硅工艺中,且该光感测元件具有相对大的微米尺寸。 | ||
搜索关键词: | 传感器 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种传感器的制造方法,包括:提供一结晶半导体基板;形成一第一图案化沟槽结构于该结晶半导体基板中;形成一第二图案化沟槽结构于该第一图案化沟槽结构中,其中该第二图案化沟槽结构具有一宽度,该宽度等于或小于该第一图案化沟槽结构的宽度;形成一深宽比捕获材料于该第一图案化沟槽结构与该第二图案化沟槽结构中,其中形成于该第二图案化沟槽结构中的该深宽比捕获材料具有差排缺陷,而位于该第一图案化沟槽结构中的该深宽比捕获材料不会出现差排缺陷;以及制作一光检测器,形成于该深宽比捕获材料上或于该深宽比捕获材料中,以输出电子,该电子是于该光检测器中通过光吸收所产生。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的