[发明专利]内建耐力测试系统、老化测试装置及相应的耐力测试方法

摘要

本发明提出一种内建耐力测试系统、老化测试装置及相应的耐力测试方法，内建耐力测试系统包括一供电端、一接地端、一时钟端以及一输出端；所述内建耐力测试系统通过所述供电端、接地端和时钟端启动，并对一芯片进行耐力测试，并通过所述输出端输出耐力测试结果。老化测试装置包括整机测试板、安置在所述整机测试板上的至少一组芯片、集成在每一芯片中的内建耐力测试系统、接收内建耐力测试系统输出的耐力测试结果的解码器以及根据解码器输出的解码结果以确定不能实现耐力测试的芯片的终端测试设备，以解决每批次进行的耐力测试样品数量少、耐力测试周期过长，且无法自动判断芯片样品读取动能失效以及测试成本昂贵的问题。

主权项

一种内建耐力测试系统，其特征在于，包括：一供电端，以接收供电电源；一接地端，以接收地电压；一时钟端，以接收时钟信号；以及一输出端；所述内建耐力测试系统通过所述供电端、接地端和时钟端启动，并对一芯片进行耐力测试，并通过所述输出端输出耐力测试结果；其中，所述耐力测试为：芯片功能耐力测试，所述芯片功能耐力测试通过一芯片功能耐力测试模块实现，并通过所述芯片功能耐力测试的输出端输出的芯片功能耐力测试结果判断所述芯片是否正常；擦除耐力测试，所述擦除耐力测试通过一擦除模块实现，并通过所述芯片功能耐力测试的输出端输出的擦除耐力测试结果判断所述芯片是否擦除功能失效；读1耐力测试，所述读1耐力测试通过一读1模块实现，并通过所述芯片功能耐力测试的输出端输出的读1耐力测试结果判断所述芯片是否读1功能失效；写0耐力测试，所述写0耐力测试通过一写0模块实现，并通过所述芯片功能耐力测试的输出端输出的写0耐力测试结果判断所述芯片是否写0功能失效；读0耐力测试，所述读0耐力测试通过一读0模块实现，并通过所述芯片功能耐力测试的输出端输出的读0耐力测试结果判断所述芯片是否读0功能失 效。