[发明专利]磁传感装置的制造工艺有效

专利信息
申请号: 201310261010.6 申请日: 2013-06-27
公开(公告)号: CN104253210B 公开(公告)日: 2017-06-06
发明(设计)人: 张挺;万旭东 申请(专利权)人: 上海矽睿科技有限公司
主分类号: H01L43/12 分类号: H01L43/12;H01L27/146;G01R33/09
代理公司: 上海金盛协力知识产权代理有限公司31242 代理人: 王松
地址: 201815 上海市嘉*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明揭示了一种磁传感装置的制造工艺,包括在基底上形成介质材料层;沉积磁性材料及保护材料;通过曝光、刻蚀工艺形成磁性材料的阵列;沉积阻挡材料;沉积导电材料;通过半导体工艺曝光、刻蚀,形成金属电极,由于阻挡材料的保护作用,金属刻蚀工艺会停留在阻挡材料上方,保障磁传感器件的性能;去除磁性材料之间残留的阻挡层材料;沉积介质层材料,配合化学机械抛光进行平坦化,并通过光刻工艺打开通孔,沉积第二层金属,并进行光刻形成金属连线。本发明采用阻挡层保护磁性材料,避免了此层介质材料层的采用,还可以减少一层光刻层,降低了成本。此外,本发明工艺有助于提升金属与磁性材料保护层的接触,从而提高器件性能,提升良率。
搜索关键词: 传感 装置 制造 工艺
【主权项】:
一种磁传感装置的制造工艺,其特征在于,所述制造工艺包括如下步骤:步骤S1、在基底上形成介质材料层;步骤S2、沉积磁性材料及保护材料,形成磁性材料层及保护层;步骤S3、通过曝光、刻蚀工艺形成磁性材料的阵列;步骤S4、沉积阻挡材料,形成阻挡层,用以保护磁性材料阵列;步骤S5、沉积导电材料,形成金属层,金属层为单层或者多层结构;步骤S6、通过半导体工艺曝光、刻蚀,形成金属电极,由于阻挡材料的保护作用,金属刻蚀工艺会停留在阻挡材料上方,保护磁性材料不受刻蚀工艺破坏;步骤S7、去除磁性材料之间残留的阻挡层材料;步骤S8、沉积介质层材料,配合化学机械抛光进行平坦化,并通过光刻工艺打开通孔,沉积第二层金属,并进行光刻形成金属连线。
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