[发明专利]一种八层堆叠式芯片封装结构及其制造工艺有效

专利信息
申请号: 201310260733.4 申请日: 2013-06-26
公开(公告)号: CN103346150A 公开(公告)日: 2013-10-09
发明(设计)人: 胡立栋;金若虚;陆春荣;刘鹏;张振燕 申请(专利权)人: 力成科技(苏州)有限公司
主分类号: H01L25/04 分类号: H01L25/04;H01L23/498;H01L21/60
代理公司: 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 代理人: 刘宪池
地址: 215000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种八层堆叠式芯片封装结构及其制造工艺,其特征在于,包括:一基板,具有相对的一顶面和一底面;八个芯片,堆叠配置于所述基板的顶面上,其中二个芯片为一组,四组芯片呈交叉梯子形堆叠;多根导线,电性连接于芯片和芯片之间和芯片和基板之间;封装结构的封装空间内填充的绝缘树脂。本发明所述制造工艺采用超精细研磨技术,金线键合分段式技术,以及封装合模技术攻克了多层封装机构制造的难题,通过本发明所述制造工艺制造的封装结构性能稳定,良品率高、层数较高、芯片容量大。
搜索关键词: 一种 堆叠 芯片 封装 结构 及其 制造 工艺
【主权项】:
一种八层堆叠式芯片封装结构,其特征在于,包括:一基板,具有相对的一顶面和一底面;八个芯片,堆叠配置于所述基板的顶面上,其中二个芯片为一组,四组芯片呈交叉梯子形堆叠;多根导线,电性连接于芯片和芯片之间和芯片和基板之间;封装结构的封装空间内填充的绝缘树脂。
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