[发明专利]玻璃配合料均匀度的测定方法在审
| 申请号： | 201310241519.4 | 申请日： | 2013-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN103323479A | 公开（公告）日： | 2013-09-25 |
| 发明（设计）人： | 孙景晓;李兆廷;李震;施敖荣;魏文生;刘成斌 | 申请（专利权）人： | 芜湖东旭光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N1/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 241000 安徽省芜湖*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： |
本发明公开了玻璃配合料均匀度的测定方法，包括以下步骤：（1）制样：将玻璃配合料样品和玻璃配合料标准样品制成适合X射线荧光光谱仪测量用的玻璃配合料样片与玻璃配合料标准样片；（2）制作标准曲线：采用所述玻璃配合料标准样片制作各元素或各氧化物对应的标准曲线；（3）测定玻璃配合料样品中的成分：用X射线荧光光谱仪测量玻璃配合料样片中各元素的荧光X射线强度，并根据各元素或各氧化物对应的标准曲线计算出玻璃配合料样品中各元素或各氧化物的含量；（4）根据计算出玻璃配合料样品中各元素或各氧化物的含量，利用以下公式计算玻璃配合料的均匀度： |
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| 搜索关键词： | 玻璃 配合 均匀 测定 方法 | ||
【主权项】：
1.玻璃配合料均匀度的测定方法，包括以下步骤：（1）制样：将从配料生产线上所取的玻璃配合料样品制成适合X射线荧光光谱仪测量用的玻璃配合料样片；按照玻璃料方配制玻璃配合料标准样品，将所述玻璃配合料标准样品制成适合X射线荧光光谱仪测量用的玻璃配合料标准样片；（2）制作标准曲线：采用所述玻璃配合料标准样片制作各元素或各氧化物对应的标准曲线；（3）测定玻璃配合料样品中的成分：用X射线荧光光谱仪测量所述玻璃配合料样片中各元素的荧光X射线强度，并根据各元素或各氧化物对应的标准曲线计算出玻璃配合料样品中各元素或各氧化物的含量；（4）根据计算出玻璃配合料样品中各元素或各氧化物的含量，利用以下公式计算玻璃配合料的均匀度：![]()
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上式中：H为均匀度，E为相对离差，S为均方差，![]()
为平均值，n为试样只数，xi为第i个试样某组分的测定值；由上述公式计算出各元素或各氧化物的相对离差E、平均离差![]()
，该玻璃配合料的均匀度![]()
=100%-![]()
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