[发明专利]光学测量装置有效
| 申请号： | 201310237895.6 | 申请日： | 2013-06-17 |
| 公开（公告）号： | CN103575657A | 公开（公告）日： | 2014-02-12 |
| 发明（设计）人： | 王威;颜孟新;周忠诚 | 申请（专利权）人： | 明达医学科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17;G01N21/45 |
| 代理公司： | 中国商标专利事务所有限公司 11234 | 代理人： | 宋义兴;周伟明 |
| 地址： | 中国台湾桃园*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学测量装置，用于测量物体的表面特性，光学测量装置包含光学穿透模块、光学测量模块及数据处理模块。光学穿透模块设置于物体的前方并具有至少一光学系数。光学测量模块传送至少一光信号穿透光学穿透模块并射至物体的表面，且经表面反射后的至少一光信号穿透光学穿透模块而形成回馈信号，光学测量模块接收回馈信号。数据处理模块耦接于光学测量模块，其中数据处理模块根据回馈信号与至少一光学系数得到表面特性。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种光学测量装置，用于测量一物体的一表面特性，其特征在于，该光学测量装置包含：一光学穿透模块，设置于该物体的前方并具有至少一光学系数；一光学测量模块，传送至少一光信号穿透该光学穿透模块并射至该物体的一表面，且经该表面反射后的该至少一光信号穿透该光学穿透模块而形成一回馈信号，该光学测量模块接收该回馈信号；以及一数据处理模块，耦接于该光学测量模块，其中该数据处理模块根据该回馈信号与该至少一光学系数得到该表面特性。
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