[发明专利]一种快速检测材料晶粒度的方法

摘要

本发明涉及材料检测领域，公开了一种快速检测材料晶粒度的方法，首先原材料取样，然后进行平磨，在真空炉中进行“淬火”，最后在金相显微镜下观察晶粒度。与传统的晶粒度检测方法相比，其特点是：原工艺是将试样在真空炉内“淬火+回火”，本发明只需在真空炉内“淬火”即可，省去回火工序；淬火后直接在金相显微镜下观察，不需要镶嵌试样、研磨、抛光、腐刻过程；晶界轮廓清晰，没有任何其他组织的干扰，可以准确进行晶粒度评级。

主权项

一种快速检测材料晶粒度的方法，包括以下步骤：    步骤1：原材料取样；在要检测晶粒度的原材料上切取试样；    步骤2：对试样进行平磨；在平面磨床上将试样的横截面进行磨削，保证粗糙度；    步骤3：真空炉淬火；包括以下子步骤：    步骤3.1：将试样清洗干净后，放入真空炉中；    步骤3.2：将真空炉内的真空度调整在2Pa~200Pa之间；    步骤3.3：对试样进行加热，加热温度与时间为：（500~650）℃*（10‑50）min+（800~900）℃*（10‑40）min +t℃*（10‑90）min，t为待测材料的加热温度；    步骤3.4：将加热后的试样在真空炉内用N2进行冷却；步骤4：观察晶粒度；从真空炉中取出试样，直接放在金相显微镜的载物台上，在金相显微镜下观察晶粒度，完成晶粒度检测。