[发明专利]确定平板X射线图像探测器中传感器的几何偏移的方法

摘要

本发明提供一种利用测试装置来确定平板X射线图像探测器中传感器的几何偏移的方法。所述测试装置包括在所述探测器的工作表面上放置的至少两个边缘测试装置。将测试装置在X射线下曝光，以获得所述测试装置的X射线图像。在获得的所述X射线图像中，识别具有与每个所述边缘测试装置的边缘相对应的像素坐标的ROI。利用所述像素坐标，通过目标函数的最小值来确定所述传感器的几何偏移。本发明的技术效果是对特定用途的技术手段的扩展，能够以足够的精度来测量传感器的几何偏移。

主权项

一种利用测试装置来确定平板X射线图像探测器中传感器几何偏移的方法，所述测试装置包括边缘测试装置，所述探测器具有至少两个固定在安装板上的传感器，所述方法包括：在所述探测器的工作表面上与所述传感器之间的间隙相对应地放置至少两个所述边缘测试装置；将所述测试装置在X射线下曝光，以获得所述测试装置的X射线图像；在获得的所述X射线图像中，识别与每个所述边缘测试装置的边缘相对应的像素，利用所述像素，通过目标函数的最小值来确定所述传感器的几何偏移。