[发明专利]一种利用X射线荧光光谱分析高钛渣中元素含量的方法

摘要

本发明涉及一种利用X射线荧光光谱分析高钛渣中元素的方法，能够对高钛渣中钛、铁、钙、镁、铝、硅、磷、钾、钒、锰、铜含量用X射线荧光光谱方法进行同时分析，可应用于高钛渣中钛、铁、钙等十一种元素的测定，能够实现高钛渣的快速全面分析，满足我国进口高钛渣品质检验的要求。

主权项

一种利用X射线荧光光谱分析高钛渣中元素的方法，所述的元素为钛、铁、钙、镁、铝、硅、磷、钾、钒、锰和铜，其特征在于，所述的方法包括有如下的步骤：1）校准样品的制备：配制用于建立校准曲线的校准样品，校准样品分别包含有不同种类、不同含量的元素；其中的元素为钛、铁、钙、镁、铝、硅、磷、钾、钒、锰、铜元素中的任一种或几种；2）制备校准样品样片 将灼烧后的校准样品和熔剂混合后，高温下熔融，混均后倒入已预热的铂‑金模具中，冷却制成校准样品样片；3）校准曲线的建立利用X射线荧光光谱仪分别测定所制备校准样品样片中钛、铁、钙、镁、铝、硅、磷、钾、钒、锰、铜元素的荧光强度值，利用理论α系数进行元素之间的校正，建立元素含量与校正后荧光强度值的校准曲线；获得校准曲线的斜率和截距；4）待测样品元素的测定按照步骤2）制备校准样品样片的方法制备待测样品样片，再利用X射线荧光光谱仪分析待测样品样片，获得钛、铁、钙、镁、铝、硅、磷、钾、钒、锰、铜元素校正后的荧光强度值，计算灼烧后待测样品的元素含量，最终获得烧失量校正后的待测样品中的元素含量值，所用到的公式如下： E x = ( a × I c + b ) - - - ( 1 ) 其中，a: 校准曲线斜率；b: 校准曲线截距；IC: 元素校正后荧光强度Kcps；Ex: 灼烧后的待测样品的元素含量； E cx = E x ( 100 - LOI ) / 100 - - - ( 2 ) 其中，Ecx: 烧失量校正后元素含量；LOI: 样品烧失量（%）； LOI = m 0 - m 1 m 0 × 100 - - - ( 3 ) 其中，m0：初始样品质量; m1：灼烧后样品质量。