[发明专利]用于化学材料成份检测的核磁共振成像方法

摘要

本发明是一种用于化学材料成份检测的核磁共振成像方法。它包括下列步骤：选取检测条件，设置受检样品，推衍化学成份像，利用计算机反演，分析材料结构与化学成份，绘制时间-化学位移图和时间-成份图。它利用核磁共振成像仪测量受检样品的核磁共振化学位移谱和弛豫谱，从而得到化学结构变化和分子之间的作用力关系；以化学位移作为化学成份像，进行成份相关性分析；用计算机进行反演，得到空间分布的化学结构谱分布图和弛豫谱；通过软件选取不同的化学位移成像，分析获得材料结构与化学成份；绘制时间-化学位移图和时间-成份图，得到随时间变化的化学位移谱图和成份分布图。本发明具有操作方便、成像准确、自动化程度高和分析数据可靠的优点。

主权项

一种用于化学材料成份检测的核磁共振成像方法，其特征在于包括以下步骤：步骤一，选取检测条件：利用核磁共振成像仪，采用变场超导磁体和快速响应梯度系统；步骤二，设置受检样品；将受检样品放置在样品室内，由可变温度装置对样品室进行恒温和变温控制；步骤三，推衍化学成份像：磁场频率可以自动调谐至与受检样品形成共振，通过最强峰形成材料总成份像，利用计算机将共振峰傅立叶转换为化学位移谱图，选择所需要的化学位移作为化学成份像，合并相关成份像，增大检测灵敏度，进行成份相关性分析；步骤四，利用计算机反演：采集磁场频率与受检样品的共振信号，利用计算机进行四维傅立叶变换反演，得到空间分布的材料化学结构谱分布图和弛豫谱；步骤五，分析材料结构与化学成份：采集受检样品的核磁共振化学位移谱图，通过计算机软件选取不同的化学位移成像，分析受检样品的材料结构与化学成份；步骤六，绘制时间‑化学位移图和时间‑成份图：间隔几分钟重复步骤三、步骤四、步骤五，连续进行多次化学位移成像，得到受检测样品随时间变化的化学位移谱图和成份分布图。